Invention Application
- Patent Title: FLASH器件及其制造方法
- Patent Title (English): Flash device and manufacturing method for same
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Application No.: PCT/CN2013/074771Application Date: 2013-04-26
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Publication No.: WO2014153798A1Publication Date: 2014-10-02
- Inventor: 朱慧珑
- Applicant: 中国科学院微电子研究所
- Applicant Address: 中国北京市朝阳区北土城西路3号, Beijing 100029 CN
- Assignee: 中国科学院微电子研究所
- Current Assignee: 中国科学院微电子研究所
- Current Assignee Address: 中国北京市朝阳区北土城西路3号, Beijing 100029 CN
- Agency: 中科专利商标代理有限责任公司
- Priority: CN201310100318.2 20130326
- Main IPC: H01L27/115
- IPC: H01L27/115 ; H01L21/8247 ; H01L29/78 ; H01L21/336 ; H01L29/10
Abstract:
公开了一种FLASH器件及其制造方法,该半导体器件包括:半导体衬底(101);半导体衬底中的阱区(102);位于阱区上的夹层结构,该夹层结构包括背栅导体(109)、位于背栅导体两侧的半导体鳍片(103')、以及将背栅导体与半导体鳍片分别隔开的各自的背栅电介质(108),其中阱区作为背栅导体的导电路径的一部分;与半导体鳍片相交的前栅堆叠,该前栅堆叠包括依次设置的浮栅电介质(121)、浮栅导体(122)、控制栅电介质(123)和控制栅导体(124),并且浮栅电介质将浮栅导体和半导体鳍片隔开;位于背栅导体上方以及半导体鳍片上方的绝缘帽盖(107'),并且绝缘帽盖将背栅导体与控制栅导体隔开;以及与半导体鳍片提供的沟道区相连的源区和漏区。该半导体器件可以实现高集成度和低功耗。
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IPC分类: