Invention Application
WO2015003966A1 VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG EINES SPIEGELSUBSTRAT-ROHLINGS AUS TITAN-DOTIERTEM KIESELGLAS FÜR DIE EUV-LITHOGRAPHIE, SOWIE SYSTEM ZUR POSITIONSBESTIMMUNG VON DEFEKTEN IN EINEM ROHLING
审中-公开
用于生产镜基板BLANK钛掺杂的玻璃PEBBLES用于EUV光刻,AND SYSTEM用于确定缺陷的位置。在一个空白
- Patent Title: VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG EINES SPIEGELSUBSTRAT-ROHLINGS AUS TITAN-DOTIERTEM KIESELGLAS FÜR DIE EUV-LITHOGRAPHIE, SOWIE SYSTEM ZUR POSITIONSBESTIMMUNG VON DEFEKTEN IN EINEM ROHLING
- Patent Title (English): Method for producing a mirror substrate blank from titanium-doped silica glass for euv lithography and system for determining the position of defects in a blank
- Patent Title (中): 用于生产镜基板BLANK钛掺杂的玻璃PEBBLES用于EUV光刻,AND SYSTEM用于确定缺陷的位置。在一个空白
-
Application No.: PCT/EP2014/064036Application Date: 2014-07-02
-
Publication No.: WO2015003966A1Publication Date: 2015-01-15
- Inventor: BECKER, Klaus
- Applicant: HERAEUS QUARZGLAS GMBH & CO. KG , SHIN-ETSU QUARTZ PRODUCTS CO., LTD.
- Applicant Address: Quarzstrasse 8 63450 Hanau DE
- Assignee: HERAEUS QUARZGLAS GMBH & CO. KG,SHIN-ETSU QUARTZ PRODUCTS CO., LTD.
- Current Assignee: HERAEUS QUARZGLAS GMBH & CO. KG,SHIN-ETSU QUARTZ PRODUCTS CO., LTD.
- Current Assignee Address: Quarzstrasse 8 63450 Hanau DE
- Agency: STAUDT, Armin
- Priority: DE10 20130709
- Main IPC: G01N21/958
- IPC: G01N21/958 ; B24B13/00 ; G01N21/896
Abstract:
Es wird ein Verfahren zur Herstellung eines Spiegelsubstrat- Rohlings aus Titan-dotiertem Kieselglas für die EUV-Lithographie mit einer Dicke von mindestens 40 Millimetern mit den folgenden Verfahrensschritten vorgeschlagen: • a) Planschleifen der Oberfläche des Rohlings • b) Ermittlung von Daten zu Defekten in einer Oberflächenschicht des Rohlings, wobei bl) Licht an einer Stelle der planen Oberfläche des Rohlings in einem vorbestimmten Einstrahlwinkel a kleiner 90° in den Rohling eindringt, b2) das Licht an einem Defekt im Rohling gestreut und b3) das Streulicht in einem Abstand x zur Eindringstelle an der Oberfläche des Rohlings von einem senkrecht darüber angeordneten Lichterfassungselement detektiert wird; • c) Bestimmung der Position des Defektes in der Oberflächenschicht anhand der beim Verfahrensschritt b) erhaltenen Daten • d) Teilweise oder vollständiges Entfernen der Oberflächenschicht unter Berücksichtigung der Positionsbestimmung gemäß Verfahrensschritt c) und unter Ausbildung des Spiegelsubstrat-Rohlings.
Information query