Invention Application
WO2016078925A1 DETEKTORVORRICHTUNG ZUR DETEKTION EINES SPEKTRALEN TEILBEREICHS FÜR EIN MIKROSKOP
审中-公开
探测装置用于频谱部分面积在显微镜检测
- Patent Title: DETEKTORVORRICHTUNG ZUR DETEKTION EINES SPEKTRALEN TEILBEREICHS FÜR EIN MIKROSKOP
- Patent Title (English): Detector device for detection of a spectral portion for a microscope
- Patent Title (中): 探测装置用于频谱部分面积在显微镜检测
-
Application No.: PCT/EP2015/075811Application Date: 2015-11-05
-
Publication No.: WO2016078925A1Publication Date: 2016-05-26
- Inventor: SHAFER, David , ANHUT, Tiemo , WALD, Matthias
- Applicant: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH
- Applicant Address: Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena DE
- Assignee: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH
- Current Assignee: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH
- Current Assignee Address: Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena DE
- Agency: NEUSSER, Sebastian
- Priority: DE10 20141117
- Main IPC: G02B21/00
- IPC: G02B21/00 ; G01J3/02 ; G01J3/14 ; G01J3/44 ; G01N21/64 ; G01J3/36
Abstract:
Eine Detektorvorrichtung (113) für ein Mikroskop umfasst ein dispersives Element (211) im Strahlengang (290) von Licht und ein Selektionselement (212). Das Selektionselement (212) trennt einen Strahlengang (291) eines spektralen Teilbereichs des Lichts von dem Strahlengang (290) des Lichts ab. Die Detektorvorrichtung (113) umfasst weiterhin eine Fokussierungsoptik (213), die eingerichtet ist, um den Strahlengang (291) des spektralen Teilbereichs des Lichts auf einen Sensor (214) zu fokussieren. Z.B. kann das Mikroskop ein Konfokalmikroskop sein.
Information query
