Invention Application
- Patent Title: 顕微鏡観察システム、顕微鏡観察方法、及び顕微鏡観察プログラム
- Patent Title (English): Microscopic observation system, microscopic observation method, and microscopic observation program
- Patent Title (中): 微观观察系统,微观观察方法和微观观察方案
-
Application No.: PCT/JP2015/061640Application Date: 2015-04-15
-
Publication No.: WO2016166858A1Publication Date: 2016-10-20
- Inventor: 阿部 洋子
- Applicant: オリンパス株式会社
- Applicant Address: 〒1510072 東京都渋谷区幡ヶ谷2丁目43番2号 Tokyo JP
- Assignee: オリンパス株式会社
- Current Assignee: オリンパス株式会社
- Current Assignee Address: 〒1510072 東京都渋谷区幡ヶ谷2丁目43番2号 Tokyo JP
- Agency: 酒井 宏明
- Main IPC: G02B21/36
- IPC: G02B21/36 ; G03B15/00 ; G03B17/40 ; G06T5/50 ; H04N5/232
Abstract:
生体等の透明被写体の全焦点画像を観察する場合であっても、Z方向における構造の位置や構造同士の前後関係をユーザが視覚的に把握することができる顕微鏡観察システム等を提供する。顕微鏡観察システム1は、顕微鏡装置10が備える観察光学系の光軸に沿って焦点位置をずらしながら被写体像を撮像することにより生成された複数のスライス画像を取得する画像取得部21と、複数のスライス画像のうちの1のスライス画像に対して他のスライス画像を、当該1のスライス画像が含まれる面内において相対的にシフトさせる画像シフト処理部231と、上記1のスライス画像と、該1のスライス画像に対して相対的にシフトさせた他のスライス画像とを、1のスライス画像に対する他のスライス画像のシフト量が異なる複数の条件の下で合成することにより、複数の全焦点画像を生成する全焦点画像生成部232と、複数の全焦点画像を表示する表示装置30とを備える。
Information query