Invention Application
- Patent Title: イオンポンプを備えた荷電粒子線装置
- Patent Title (English): Charged particle beam device provided with ion pump
- Patent Title (中): 带有离子泵的充电颗粒光束装置
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Application No.: PCT/JP2015/063145Application Date: 2015-05-01
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Publication No.: WO2016178283A1Publication Date: 2016-11-10
- Inventor: 利根 正純 , 任田 浩 , 大西 富士夫
- Applicant: 株式会社日立ハイテクノロジーズ
- Applicant Address: 〒1058717 東京都港区西新橋一丁目24番14号 Tokyo JP
- Assignee: 株式会社日立ハイテクノロジーズ
- Current Assignee: 株式会社日立ハイテクノロジーズ
- Current Assignee Address: 〒1058717 東京都港区西新橋一丁目24番14号 Tokyo JP
- Agency: 青稜特許業務法人
- Main IPC: H01J37/248
- IPC: H01J37/248 ; H01J37/18 ; H01J37/28
Abstract:
イオンポンプを備えた荷電粒子線装置において、イオンポンプの電源の低周波ノイズを十分に低減して真空度を高精度に計測することを可能にする。イオンポンプ(2)の駆動電源部(1)を、イオンポンプ(2)を作動させる高圧電源回路部(101-112)と、イオンポンプ(2)に印加される負荷電流を検出する負荷電流検出回路部(130)と、負荷電流検出回路部(130)に加わる低周波ノイズを低減するキャンセラ回路部(140)とを備えて構成する。
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