Invention Application
- Patent Title: 단상 다중회로 계측장치
- Patent Title (English): Single-phase multi-circuit measurement device
- Patent Title (中): 单相多电路测量装置
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Application No.: PCT/KR2016/007660Application Date: 2016-07-14
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Publication No.: WO2017026675A1Publication Date: 2017-02-16
- Inventor: 정창용 , 변영복 , 조국춘 , 문부기
- Applicant: 주식회사 루텍
- Applicant Address: 16681 경기도 수원시 영통구 신원로 88 디지털엠파이어2, 102-611, Gyeonggi-do KR
- Assignee: 주식회사 루텍
- Current Assignee: 주식회사 루텍
- Current Assignee Address: 16681 경기도 수원시 영통구 신원로 88 디지털엠파이어2, 102-611, Gyeonggi-do KR
- Agency: 특허법인태산
- Priority: KR10-2015-0114626 20150813
- Main IPC: G01R31/28
- IPC: G01R31/28 ; G01R19/165 ; G01R1/22 ; G01R23/12 ; G01R19/22
Abstract:
본 발명에 따른 단상 다중회로 계측장치(100)는, 내장된 관통형의 CT에서 생성된 전류 신호로부터 유래하는 전류 데이터와 통신모듈에서 수신한 전압 데이터를 이용하여 전력을 계산하되, 단일의 장치로써 인접하는 복수의 단상회로(4)를 모두 계측하는 단상 다중회로 계측장치(100)로서, 상기 인접하는 복수의 단상회로를 구성하는 전력선로중에서, 가장자리에 있는 두 개의 전력선로(4S)는 관통하지 않고 나머지 전력선로(4M)가 관통되도록 구성되며, 상기 관통하는 전력선로(4M)중 각 단상회로마다 적어도 하나의 전력선로에 대응하여 상기 관통형의 CT가 각각 설치되는 것을 특징으로 한다.
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