Invention Application
- Patent Title: 一种测量叶片内部离子浓度时探头穿刺位置的确定方法
- Patent Title (English): Method for determining puncture position of probe during measurement of concentration of ions in leaf
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Application No.: PCT/CN2015/099356Application Date: 2015-12-29
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Publication No.: WO2017092120A1Publication Date: 2017-06-08
- Inventor: 李青林 , 毛罕平 , 左志宇 , 倪纪恒 , 张晓东 , 孙俊
- Applicant: 江苏大学
- Applicant Address: 中国江苏省镇江市学府路301号, Jiangsu 212013 CN
- Assignee: 江苏大学
- Current Assignee: 江苏大学
- Current Assignee Address: 中国江苏省镇江市学府路301号, Jiangsu 212013 CN
- Agency: 北京德崇智捷知识产权代理有限公司
- Priority: CN201510852092.0 20151130
- Main IPC: G01N23/00
- IPC: G01N23/00
Abstract:
一种测量叶片内部离子浓度时探头穿刺位置确定的方法,首先借助扫描电子显微系统采集番茄叶片表面和断面的显微结构图像,通过对表面微结构进行观察和统计分析得到叶片正反面绒毛、维管束、气孔的几何尺寸和分布密度;根据测量可靠和准确的原则确定探针在叶面的穿刺位置;在扫描电子显微系统下观察叶片断面结构特征,并借助能谱测量技术分析各元素叶片厚度方向的分布;最后根据元素分布特征,选择分布浓度高的组织,作为探头的测量位置。该方法采用扫描电子显微技术和能谱技术相结合的方法,确定了叶片内部离子浓度测量时探头的最佳穿刺位置和穿刺深度,以提高测量的准确度,可应用于测量叶片内部离子浓度。
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