Invention Application
- Patent Title: 質量分析装置及び質量分析方法
- Patent Title (English): Mass spectrometry device and mass spectrometry method
- Patent Title (中): 质谱仪和质谱法
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Application No.: PCT/JP2016/056166Application Date: 2016-03-01
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Publication No.: WO2017149632A1Publication Date: 2017-09-08
- Inventor: 山村 雄太郎 , 渡邉 淳 , 前田 見悟
- Applicant: 株式会社島津製作所
- Applicant Address: 〒6048511 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 Kyoto JP
- Assignee: 株式会社島津製作所
- Current Assignee: 株式会社島津製作所
- Current Assignee Address: 〒6048511 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 Kyoto JP
- Agency: 吉本 力
- Main IPC: G01N27/62
- IPC: G01N27/62 ; H01J49/42
Abstract:
質量分析装置は、質量分析部2と、マススペクトル生成部31と、絶対強度比較部32と、ピークパターン比較部34と、目的成分判定部35とを備える。質量分析部2は、試料を直接イオン化して質量分析を行う。マススペクトル生成部31は、質量分析部2による質量分析に基づいてマススペクトルを生成する。絶対強度比較部32は、マススペクトル生成部31により生成されたマススペクトルに含まれるピークの絶対強度を閾値と比較する。ピークパターン比較部34は、マススペクトル生成部31により生成されたマススペクトルを予め定められたピークパターンと比較する。目的成分判定部35は、絶対強度比較部32による比較結果、及び、ピークパターン比較部34による比較結果に基づいて、試料中の目的成分の有無を判定する。
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