Invention Application
- Patent Title: 芯片单粒子效应探测方法及装置
- Patent Title (English): Chip single-event effect detection method and device
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Application No.: PCT/CN2016/092256Application Date: 2016-07-29
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Publication No.: WO2018000495A1Publication Date: 2018-01-04
- Inventor: 李慧云 , 邵翠萍 , 刘玢玢
- Applicant: 中国科学院深圳先进技术研究院
- Applicant Address: 中国广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号, Guangdong 518055 CN
- Assignee: 中国科学院深圳先进技术研究院
- Current Assignee: 中国科学院深圳先进技术研究院
- Current Assignee Address: 中国广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号, Guangdong 518055 CN
- Agency: 北京三友知识产权代理有限公司
- Priority: CN201610480725.4 20160627
- Main IPC: G01R31/311
- IPC: G01R31/311
Abstract:
一种芯片单粒子效应探测方法及装置，其中方法包括：将待测芯片放入测试机台，触发待测芯片产生单粒子效应；随机关断待测芯片的扫描寄存器，形成随机观测矩阵；向待测芯片提供输入测试向量，获得待测芯片的输出测试向量，根据输出测试向量获得错误总数向量；对错误总数向量进行压缩感知信号重构，确定待测芯片内部敏感区域。可以高效、便捷地对芯片单粒子效应进行探测。
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