Invention Application
- Patent Title: データ間引き装置、測量装置、測量システム及びデータ間引き方法
- Patent Title (English): DATA THINNING DEVICE, SURVEYING DEVICE, SURVEYING SYSTEM, AND DATA THINNING METHOD
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Application No.: PCT/JP2018/012928Application Date: 2018-03-28
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Publication No.: WO2019012751A1Publication Date: 2019-01-17
- Inventor: 日野 百代 , 前原 秀明 , 平 謙二 , 加藤 純雄
- Applicant: 三菱電機株式会社
- Applicant Address: 〒1008310 東京都千代田区丸の内二丁目7番3号 Tokyo JP
- Assignee: 三菱電機株式会社
- Current Assignee: 三菱電機株式会社
- Current Assignee Address: 〒1008310 東京都千代田区丸の内二丁目7番3号 Tokyo JP
- Agency: 田澤 英昭
- Priority: JP2017-138004 20170714
- Main IPC: G01C7/04
- IPC: G01C7/04 ; G01C15/00
Abstract:
複数の測距点(P)までの距離及び角度と、レーザ光の照射基準点の座標とを示す測距点(P)に関するデータ、及び、航空機(2)の姿勢角から、測距点(P)毎に、複数の画像のうちの対応する画像上での座標を計算する座標計算部(161)と、画像毎に、特徴点を抽出する特徴点抽出部(162)と、測距点(P)毎に、対応する画像において、座標計算部(161)により計算された座標から、特徴点抽出部(162)により抽出された特徴点のうちの距離の近い特徴点までの距離を計算する距離計算部(163)と、距離計算部(163)による計算結果から、測距点(P)に関するデータのうちの不要なデータを削除する要否判定部(166)を備えた。
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