Invention Application
- Patent Title: イオン光学素子の設計方法及び質量分析装置
- Patent Title (English): METHOD FOR DESIGNING ION OPTICAL ELEMENT, AND MASS SPECTROMETRY DEVICE
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Application No.: PCT/JP2017/026610Application Date: 2017-07-24
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Publication No.: WO2019021338A1Publication Date: 2019-01-31
- Inventor: 谷口 純一
- Applicant: 株式会社島津製作所
- Applicant Address: 〒6048511 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 Kyoto JP
- Assignee: 株式会社島津製作所
- Current Assignee: 株式会社島津製作所
- Current Assignee Address: 〒6048511 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 Kyoto JP
- Agency: 特許業務法人京都国際特許事務所
- Main IPC: H01J49/42
- IPC: H01J49/42
Abstract:
リニア型イオントラップ(3)において、四重極電場の強さに対する八重極電場の強さの比率及び該四重極電場の強さに対する十二重極電場の強さの比率の極性が互いに異なるとともにその絶対値がそれぞれ0.005以上で、且つ十二重極電場の強さに対する八重極電場の強さの比率の絶対値が0.6~1.4の範囲に収まるように、4本のロッド電極(3a~3d)の形状及び配置を、四重極電場のみが形成される理想状態からずらす。四重極電場に八重極電場を重畳し、さらに八重極電場とは逆極性である十二重極電場を重畳すると、共鳴曲線のピークシフトが相殺され、高周波、低周波共に急峻なエッジを持つピークが得られる。こうした条件を満たすリニア型イオントラップは、高いイオン捕捉効率と高いイオン分離能とを達成可能である。
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