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Invention Application
WO2019101273A1 VERFAHREN UND BEWERTUNGSEINHEIT ZUM ERMITTELN DER RESTLEBENSDAUER EINES KONDENSATORS SOWIE SYSTEM 审中-公开

  • Patent Title: VERFAHREN UND BEWERTUNGSEINHEIT ZUM ERMITTELN DER RESTLEBENSDAUER EINES KONDENSATORS SOWIE SYSTEM
  • Patent Title (English): METHOD AND ASSESSMENT UNIT FOR DETERMINING THE REMAINING SERVICE LIFE OF A CAPACITOR, AND SYSTEM
  • Application No.: PCT/DE2018/200099
    Application Date: 2018-11-05
  • Publication No.: WO2019101273A1
    Publication Date: 2019-05-31
  • Inventor: SCHNELL, Marco
  • Applicant: ZIEHL-ABEGG SE
  • Applicant Address: Heinz-Ziehl-Straße 74653 Künzelsau DE
  • Assignee: ZIEHL-ABEGG SE
  • Current Assignee: ZIEHL-ABEGG SE
  • Current Assignee Address: Heinz-Ziehl-Straße 74653 Künzelsau DE
  • Agency: ULLRICH & NAUMANN
  • Priority: DE10 20171124
  • Main IPC: G01R31/02
  • IPC: G01R31/02 ;  G01R27/26
VERFAHREN UND BEWERTUNGSEINHEIT ZUM ERMITTELN DER RESTLEBENSDAUER EINES KONDENSATORS SOWIE SYSTEM
Abstract:
Es ist ein Verfahren zum Ermitteln der Restlebensdauer eines Kondensators offenbart, wobei der Kondensator vorzugsweise durch ein Elektrolytkondensator gebildet ist. Das Verfahren umfasst die Schritte: Messen einer Spannungsänderung (ΔU) über dem Kondensator während einer Entladezeit (Δt), Bestimmen eines Entladestroms (I) während der Entladezeit (Δt), Ermitteln einer Istkapazität (C gemessen ) des Kondensators anhand der Spannungsänderung (ΔU), des Entladestroms (I) und der Entladezeit (Δt), Bestimmen einer korrigierten Kapazität (C x ) des Kondensators aus der Istkapazität (C gemessen ) mittels einer Fehlerkorrektur, wobei bei der Fehlerkorrektur Einflüsse der Temperatur (T) auf die Kapazität des Kondensators korrigiert werden, und Ermitteln der Restlebensdauer (L r , L rx ) basierend auf einer Differenz zwischen der korrigierten Kapazität (C x ) und einer Initialkapazität (C 0 ) des Kondensators. Es ist ferner eine Bewertungseinheit offenbart, die dieses Verfahren ausführen kann, sowie ein System, das diese Bewertungseinheit sowie eine Schaltung mit mindestens einem zu bewertenden Kondensator umfasst.
Abstract(English):

A method for determining the remaining service life of a capacitor is disclosed, wherein the capacitor is preferably formed by an electrolytic capacitor. The method comprises the steps of: measuring a voltage change (ΔU) across the capacitor during a discharging time (Δt), determining a discharging current (I) during the discharging time (Δt), determining an actual capacitance (Cmeasured) of the capacitor on the basis of the voltage change (ΔU), the discharging current (I) and the discharging time (Δt), determining a corrected capacitance (Cx) of the capacitor from the actual capacitance (Cmeasured) by means of an error correction, wherein influences of the temperature (T) on the capacitance of the capacitor are corrected during the error correction, and determining the remaining service life (Lr, Lrx) on the basis of a difference between the corrected capacitance (Cx) and an initial capacitance (C0) of the capacitor. An assessment unit which can carry out this method and a system which comprises this assessment unit and a circuit having at least one capacitor to be assessed are also disclosed.

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