Invention Application
- Patent Title: 一种侦测闪存内电性不稳定的块的方法
- Patent Title (English): METHOD FOR DETECTING BLOCK WITH INSTABLE ELECTRICAL PROPERTY IN FLASH MEMORY
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Application No.: PCT/CN2018/105855Application Date: 2018-09-14
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Publication No.: WO2020015124A1Publication Date: 2020-01-23
- Inventor: 蔡定国 , 李庭育 , 庄健民 , 齐元辅
- Applicant: 江苏华存电子科技有限公司
- Applicant Address: 中国江苏省南通市高新技术开发区江海智汇园A2-115蔡鑫飞, Jiangsu 226500 CN
- Assignee: 江苏华存电子科技有限公司
- Current Assignee: 江苏华存电子科技有限公司
- Current Assignee Address: 中国江苏省南通市高新技术开发区江海智汇园A2-115蔡鑫飞, Jiangsu 226500 CN
- Priority: CN201810806234.3 20180720
- Main IPC: G11C29/18
- IPC: G11C29/18
Abstract:
一种侦测闪存内电性不稳定的块的方法,包括控制芯片(1)、软件程序模块(2)和闪存芯片(3),控制芯片(1)分别信号连接软件程序模块(2)和闪存芯片(3),先将测试资料写入所有块的第一页,接着将所有块擦除,再将测试资料写到所有块的所有页,最后对所有块的所有页内的资料进行比对,依照结果得到坏块表;该方法原理简单,工作效率高,可以将写的页数没有超过6个页就进行擦除而会导致块写入的资料容易出错的坏块找出来。
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