Invention Application
WO2020140981A1 辐射检查设备
审中-公开
- Patent Title: 辐射检查设备
- Patent Title (English): RADIATION INSPECTION EQUIPMENT
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Application No.: PCT/CN2020/070314Application Date: 2020-01-03
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Publication No.: WO2020140981A1Publication Date: 2020-07-09
- Inventor: 孙尚民 , 宋全伟 , 宗春光 , 胡煜 , 周合军 , 喻卫丰 , 史俊平 , 樊旭平 , 曹金国
- Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学 , 同方威视科技(北京)有限公司
- Applicant Address: 中国北京市海淀区双清路同方大厦A座2层, Beijing 100084 CN
- Assignee: 同方威视技术股份有限公司,清华大学,同方威视科技(北京)有限公司
- Current Assignee: 同方威视技术股份有限公司,清华大学,同方威视科技(北京)有限公司
- Current Assignee Address: 中国北京市海淀区双清路同方大厦A座2层, Beijing 100084 CN
- Agency: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- Priority: CN201910009521.6 20190104
- Main IPC: G01V5/00
- IPC: G01V5/00
Abstract:
一种辐射检查设备,具有检查状态和运输状态,包括辐射探测装置和防护墙(3)。辐射探测装置包括射线源和与射线源配合的探测器,在检查状态,辐射探测装置具有用于被检物通过的检查通道(5)。防护墙(3)包括位置可变的多个墙体以使防护墙(3)可变形,在检查状态,防护墙(3)位于检查通道(5)的两侧以防止射线泄漏,在运输状态,防护墙(3)的至少部分墙体在检查通道(5)的方向上比在检查状态更靠近辐射探测装置。辐射检查设备,在检查状态辐射检查设备进行辐射检查时的安全性较高,在运输状态方便辐射检查设备的整体运输。
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