Invention Application
- Patent Title: 射线检查设备、以及检查目标的方法
- Patent Title (English): RAY INSPECTION DEVICE AND TARGET INSPECTION METHOD
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Application No.: PCT/CN2022/071215Application Date: 2022-01-11
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Publication No.: WO2022206102A1Publication Date: 2022-10-06
- Inventor: 张丽 , 陈志强 , 黄清萍 , 梁晋宁 , 洪明志 , 程熠 , 邱明华 , 张瑶 , 杨建学 , 郑磊
- Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
- Applicant Address: 中国北京市海淀区清华园1号, Beijing 100084; 中国北京市海淀区双清路同方大厦A座2层, Beijing 100084
- Assignee: 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- Current Assignee: 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- Current Assignee Address: 中国北京市海淀区清华园1号, Beijing 100084; 中国北京市海淀区双清路同方大厦A座2层, Beijing 100084
- Agency: 中科专利商标代理有限责任公司
- Priority: CN202110344167.X 2021-03-30
- Main IPC: G01V5/00
- IPC: G01V5/00
Abstract:
一种射线检查设备(100)和检查目标的方法。射线检查设备(100)包括:支撑框架(1),支撑框架(1)内形成适用于检查目标(200)的检查空间(11),检查空间(11)具有与外部连通的入口(111)和出口(112);传输通道(2),适用于承载目标(200)穿过检查空间(11)移动;第一屏蔽门帘(3)和第二屏蔽门帘(4),分别安装在入口(111)和出口(112)处;以及驱动机构(5),安装在支撑框架(1)上,并被构造成响应于目标(200)靠近或者离开入口(111)和出口(112)中的至少一个,驱动第一屏蔽门帘(3)和第二屏蔽门帘(4)中的至少一个移动,以打开或者关闭入口(111)或者出口(112)中的至少一个。由于驱动机构(5)可以根据目标(200)靠近或者离开屏蔽门帘事件的发生,驱动屏蔽门帘的升降,可以确保重量较轻的目标(200)能够顺利进入到检查空间(11)中以进行后续的射线扫描接触。
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