- 专利标题： VERFAHREN ZUM BETREIBEN EINES MIKROSKOPIESYSTEMS, MIKROSKOPIESYSTEM UND KALIBRIERVERFAHREN FÜR EIN MIKROSKOPIESYSTEM
- 专利标题（英）： METHOD FOR OPERATING A MICROSCOPY SYSTEM, MICROSCOPY SYSTEM AND CALIBRATION METHOD FOR A MICROSCOPY SYSTEM
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申请号： PCT/EP2022/064996申请日： 2022-06-02
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公开(公告)号： WO2022258467A2公开(公告)日： 2022-12-15
- 发明人: REICHERT, David , WILZBACH, Marco , SAUR, Stefan , HAUGER, Christoph , HÖGELE, Artur , ERKKILÄ, Mikael Timo , MATZ, Holger , LEITGEB, Rainer , UNTERHUBER, Angelika , ANDREANA, Marco
- 申请人： CARL ZEISS MEDITEC AG
- 申请人地址： Göschwitzer Str. 51 - 52
- 专利权人： CARL ZEISS MEDITEC AG
- 当前专利权人： CARL ZEISS MEDITEC AG
- 当前专利权人地址： Göschwitzer Str. 51 - 52
- 代理机构： CARL ZEISS AG - PATENTABTEILUNG
- 优先权： DE10 2021 205 727.6 2021-06-07
- 主分类号： G02B21/00
- IPC分类号： G02B21/00 ; G02B21/06 ; G02B21/36 ; G02B21/0012 ; G02B21/367
摘要：
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Betreiben eines Mikroskopiesystems (100). Das Verfahren umfassend die Schritte: - Bestrahlen eines Bereichsabschnitts (30) eines ersten Bereiches mit einer Lichtquelle (2) mit Licht einer ersten Wellenlänge λ1 und einer ersten Lichtintensität L1 (S11); - Ermitteln einer stoffspezifischen Kenngröße innerhalb des Bereichsabschnitts (30) als Antwort auf die Bestrahlung mit der Lichtquelle (2) (S12); - Wiederholen der Schritte für alle Bereichsabschnitte (30) innerhalb des ersten Bereiches (S13a). Außerdem betrifft die Erfindung ein Mikroskopiesystem und ein Kalibrierungsverfahren.
