Invention Application
- Patent Title: 供試体試験システム、供試体試験用プログラム、及び、供試体試験方法
- Patent Title (English): SPECIMEN TESTING SYSTEM, SPECIMEN TESTING PROGRAM, AND SPECIMEN TESTING METHOD
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Application No.: PCT/JP2022/030777Application Date: 2022-08-12
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Publication No.: WO2023026873A1Publication Date: 2023-03-02
- Inventor: 古川 和樹 , 塩見 健司 , 菊田 孝幸
- Applicant: 株式会社堀場製作所
- Applicant Address: 〒6018510 京都府京都市南区吉祥院宮の東町2番地 Kyoto
- Assignee: 株式会社堀場製作所
- Current Assignee: 株式会社堀場製作所
- Current Assignee Address: 〒6018510 京都府京都市南区吉祥院宮の東町2番地 Kyoto
- Agency: 西村 竜平
- Priority: JP2021-137921 2021-08-26
- Main IPC: G01R31/387
- IPC: G01R31/387 ; G01M17/007 ; G01R31/382
Abstract:
本発明は、電動化車両又はその一部の充電工程を自動的に行うことにより長時間に亘る試験を行うだけでなく、実際の路上走行を再現した条件で供試体を試験するものであり、電動化車両又はその一部である供試体Wを給電装置3によって充電して供試体Wを試験する供試体試験システム100であって、供試体Wに対して負荷を与えるダイナモメータ2と、供試体Wの情報を取得する情報取得部6と、供試体Wの情報に基づいて、供試体Wの試験を制御する試験制御部7とを備え、試験制御部7は、供試体Wの情報が第1条件を満たした場合に、供試体Wの運転を停止し、給電装置3により供試体Wを充電し、供試体Wの情報が第2条件を満たした場合に、給電装置3による供試体Wの充電を停止し、供試体Wの運転を再開する。
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