易接近的分析装置及其使用方法

    公开(公告)号:CN100394185C

    公开(公告)日:2008-06-11

    申请号:CN03817811.7

    申请日:2003-06-09

    IPC分类号: G01N33/558

    CPC分类号: G01N33/558 Y10T436/25375

    摘要: 本发明提供了一种分析测试条(10)及盒体(30)。将测试条放置在支架中,支架的形状和结构使得检测器能够从测试条的侧面而不是从纵轴方向接近测试条。支架可以容纳一个或多个测试条,其还可以被设置在支架的一个或多个表面上。优选地,支架通常是呈C型,同时测试条横跨C型两臂之间的空间。将支架进行密封以保护操作人员和仪器免受可能的污染。优选地,测试条包埋有顺磁粒子和用于粒子涂布的化学专用品。利用磁性读取装置可以进行定量分析。在另外的具体实施例中,可以通过目测方法来进行检测。

    易接近的分析装置及其使用方法

    公开(公告)号:CN1672053A

    公开(公告)日:2005-09-21

    申请号:CN03817811.7

    申请日:2003-06-09

    IPC分类号: G01N33/558

    CPC分类号: G01N33/558 Y10T436/25375

    摘要: 本发明提供了一种分析测试条(10)及盒体(30)。将测试条放置在支架中,支架的形状和结构使得检测器能够从测试条的侧面而不是从纵轴方向接近测试条。支架可以容纳一个或多个测试条,其还可以被设置在支架的一个或多个表面上。优选地,支架通常是呈C型,同时测试条横跨C型两臂之间的空间。将支架进行密封以保护操作人员和仪器免受可能的污染。优选地,测试条包埋有顺磁粒子和用于粒子涂布的化学专用品。利用磁性读取装置可以进行定量分析。在另外的具体实施例中,可以通过目测方法来进行检测。