薄膜电容器寿命预测方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN119375587A

    公开(公告)日:2025-01-28

    申请号:CN202411553442.9

    申请日:2024-11-02

    Abstract: 本申请属于电子元器件老化测试技术领域,具体公开了一种薄膜电容器寿命预测方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括:获取老化试验工况下待测薄膜电容器两端在当前预测周期时段的电压信息;提取电压信息中的电压直流分量和电压谐波分量,并基于电压谐波分量确定老化加速因子;基于电压直流分量、当前预测周期时段的热点温度和老化加速因子,确定待测薄膜电容器在当前预测周期时段的老化速率;在确定老化速率满足预设寿命终止阈值条件的情况下,根据当前预测周期时段对应的总时长确定待测薄膜电容器的寿命。通过本申请,实现了对薄膜电容器寿命的自动预测,而无需人工参与,可以大大提高薄膜电容器寿命预测的准确性和效率。

    薄膜电容器赋能控制系统、方法、电子设备和存储介质

    公开(公告)号:CN118778511A

    公开(公告)日:2024-10-15

    申请号:CN202410860150.3

    申请日:2024-06-28

    Abstract: 本申请属于薄膜电容器赋能技术领域,具体公开了一种薄膜电容器赋能控制系统、方法、电子设备和存储介质,该系统包括:正弦波发生器、变压器、单片机微控制器和定时器,其中:所述正弦波发生器用于接收第一输入,并基于所述第一输入,输出相应的正弦波电压,所述第一输入为用户设置正弦波电压的幅值与频率的操作;所述变压器用于扩大所述正弦波电压的电压幅值变化范围,还用于对薄膜电容器两端输出正弦波电压;所述单片机微控制器用于接收第二输入,并基于所述第二输入,生成控制信号,所述第二输入为用户设置赋能时长的操作;所述定时器用于基于所述控制信号,对薄膜电容器的赋能时长进行控制。

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