公开(公告)号：CN117291436A

公开(公告)日：2023-12-26

申请号：CN202311066314.7

申请日：2023-08-23

Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 ,  国网浙江省电力有限公司

Inventor： 窦健 ,  郄爽 ,  祝恩国 ,  刘宣 ,  刘兴奇 ,  杜艺娜 ,  李甲祎 ,  王朝亮

IPC: G06Q10/0637 ,  G06Q50/06 ,  G06N3/006

Abstract: 本发明公开了一种电网设备采集系统的故障诊断方法、装置及介质，包括：根据获取的待检测电网设备采集系统的元器件动作构建电网设备采集系统的解析表达式；根据解析表达式，构建电网设备采集系统的优化解析模型；利用混沌粒子群混合灰狼优化算法对优化解析模型进行计算，确定优化解析模型的最优解；将最优解带入解析表达式，确定待检测的电网设备采集系统的故障诊断结果。

公开(公告)号：CN119536216A

公开(公告)日：2025-02-28

申请号：CN202411609862.4

申请日：2024-11-12

Applicant: 中国电力科学研究院有限公司

Inventor： 高天予 ,  熊素琴 ,  邹和平 ,  郑安刚 ,  李扬 ,  李求洋 ,  成达 ,  李甲祎 ,  李龙涛 ,  许佳佳 ,  杨巍 ,  陈思禹 ,  王雅涛 ,  赵越 ,  秦程林 ,  赵立涛 ,  郭建宁 ,  李禹凡 ,  谢思博 ,  谭琛

IPC: G05B23/02

Abstract: 本发明公开了一种用于微控制器MCU芯片测试的装置及方法，属于半导体技术领域。本发明装置，包括：主控电路板、MCU测试母电路板和MCU测试子电路板；所述MCU测试子电路板用于获取待测MCU芯片的多路输出参数，并将所述多路输出参数通过所述MCU测试母电路板发送至所述主控电路板，所述主控电路板用于选择所述多路输出参数中的一路输出参数进行输出，以所述一路输出参数进行待测MCU芯片的性能或功能测试，直至所述多路输出参数均完成测试；所述MCU测试子电路板与待测MCU芯片通信连接。本发明装置实施测试简单高效且兼容性高。

公开(公告)号：CN119401334A

公开(公告)日：2025-02-07

申请号：CN202411510302.3

申请日：2024-10-28

Applicant: 中国电力科学研究院有限公司

Inventor： 熊素琴 ,  李求洋 ,  郜波 ,  邹和平 ,  成达 ,  李扬 ,  高天予 ,  李龙涛 ,  谢思博 ,  李甲祎

IPC: H02H3/00 ,  H02H3/08 ,  G06Q50/06

Abstract: 一种电流保护整定值设置的方法及装置，该方法包括：接收客户端发送的配置模版信息，将该配置模版信息与保护整定值数据进行比对确认，若通过比对确认，则将保护整定值数据发送至智能断路器以用于智能断路器基于保护整定值数据更新保护参数设置，并反馈更新结果。通过本发明实施例提供的方法及装置，填补了对电能计量箱内断路器进行电流保护整定的技术空白，可以有效地完成整定值设置确认，人工现场进行定值设定的同时完成设备采集系统上线验证，在保证定值修改准确性的同时提高工作效率，减少工作人员反复去现场的工作量。

公开(公告)号：CN119274452A

公开(公告)日：2025-01-07

申请号：CN202411609747.7

申请日：2024-11-12

Applicant: 中国电力科学研究院有限公司

Inventor： 高天予 ,  熊素琴 ,  邹和平 ,  李求洋 ,  李扬 ,  成达 ,  李甲祎 ,  郑安刚 ,  李龙涛 ,  许佳佳 ,  杨巍 ,  陈思禹 ,  王雅涛 ,  赵越 ,  秦程林 ,  赵立涛 ,  郭建宁 ,  李禹凡 ,  谢思博 ,  谭琛

IPC: G09G3/00

Abstract: 本发明公开了一种显示器件测试装置、系统、方法、设备及介质，属于半导体技术领域。本发明装置，包括：电源电路板和器件插装电路板；所述器件插装电路板用于连接待测显示器件，所述电源电路板用于通过所述器件插装电路板连接所述待测显示器件；所述电源电路板，为所述待测显示器件提供显示控制信号，以显示控制信号对所述待测显示器件进行测试，所述器件插装电路板用于显示控制参数。本发明测试效率高，兼容率高。