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公开(公告)号:CN101393275A
公开(公告)日:2009-03-25
申请号:CN200810202063.X
申请日:2008-10-31
申请人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
摘要: 一种光磁混合存储记录的超分辨薄膜结构,特点在于其结构依次包括基片、介电层、超分辨掩膜层、热保护层、磁记录层和保护层,所述的基片为玻璃,所述的介电层、热保护层及保护层由SiN或SiO2构成,所述的超分辨掩膜层由Si(x)Ag(1-x)合金组成,其中x的取值范围为0<x<1,所述的磁记录层为TbFeCo。通过使用激光波长为406.7纳米蓝光辅助加热,数值孔径为0.80的物镜,外磁场为300奥斯特进行记录。得到了100纳米的记录磁畴。
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公开(公告)号:CN100575986C
公开(公告)日:2009-12-30
申请号:CN200810202063.X
申请日:2008-10-31
申请人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
摘要: 一种光磁混合存储记录的超分辨薄膜结构,特点在于其结构依次包括基片、介电层、超分辨掩膜层、热保护层、磁记录层和保护层,所述的基片为玻璃,所述的介电层、热保护层及保护层由SiN或SiO2构成,所述的超分辨掩膜层由Si(x)Ag(1-x)合金组成,其中x的取值范围为0<x<1,所述的磁记录层为TbFeCo。通过使用激光波长为406.7纳米蓝光辅助加热,数值孔径为0.80的物镜,外磁场为300奥斯特进行记录。得到了100纳米的记录磁畴。
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公开(公告)号:CN101101451A
公开(公告)日:2008-01-09
申请号:CN200710043931.X
申请日:2007-07-18
申请人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
摘要: 一种减小激光直写光刻点或线宽的薄膜结构及其制备方法,该薄膜结构包括无机相变薄膜层和缓冲层,所述的无机相变薄膜层由AgInSbTe或GeSbTe或SbTe构成,所述的缓冲层由热导率高的金属或半导体材料构成。该薄膜结构采用直流磁控溅射法制备,本发明薄膜结构具有膜层结构简单、工艺易控制和基片要求低等优点。试验证明可以明显减小激光直写光刻点和线宽的尺寸。
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