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公开(公告)号：CN103559412B
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201310573294.2
申请日：2013-11-13
申请人： 北京广利核系统工程有限公司 , 中国广核集团有限公司
IPC分类号： G06F19/00
摘要： 本发明公开一种基于MooN架构获取定期试验周期的计算方法，将N个通道的正常状态与失效状态进行不同组合，以得到N个通道中N‑M+1个通道失效的系统失效组合，其中，假设每个通道的失效率λ相同，针对安全系统的定期试验周期为T，定期试验带来的风险降低为Q，利用上述设定通过对通道的组合方式分析得到的结果，与T进行比较，当两者接近时即可得到待测系统的定期试验周期。本发明根据通用可靠性理论和核电中关于定期试验周期的计算方法，解决了在不同的试验策略下，不同的符合逻辑情况下的通用逻辑符合结构进行初始试验周期的确定方法，本发明思路方法明确，公式统一，能够适用于所有的逻辑结构。
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公开(公告)号：CN103646170B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201310631726.0
申请日：2013-11-29
申请人： 北京广利核系统工程有限公司 , 中国广核集团有限公司
IPC分类号： G06F19/00
摘要： 本发明公开一种安全通信残差率的风险定量评估方法，获取当前安全通信层每小时传输的最大安全信息包数量v和最大信宿数m，以及将一个安全信息包的残差率和冗余通信数据的设计，转化为该安全信息包通信的残差率，将上述数值相乘即能够得到此安全通信层的残差率ΛSL(Pe)。本发明根据通用可靠性理论和基本残差率的计算方法，解决在安全通信层采用冗余通信的方式如何评估通信残差率的问题，得到的结果使通信残差率的评价更客观。弥补了原有残差率只考虑协议部分未考虑冗余设计的缺点。
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公开(公告)号：CN107656514A
公开(公告)日：2018-02-02
申请号：CN201710748183.9
申请日：2017-08-28
申请人： 北京广利核系统工程有限公司 , 中国广核集团有限公司
IPC分类号： G05B23/02
CPC分类号： G05B23/0213 , G05B2219/24065
摘要： 本发明属于数字化仪控系统的技术领域，为了解决现有技术中存在的无法针对FPGA按照标准方法给出统一的诊断覆盖率的技术问题，本发明提供一种数字化仪控系统中FPGA诊断判定方法和装置，用以对数字化仪控系统中FPGA诊断覆盖率进行判定；所述方法包括：将所述FPGA按照其内部逻辑的功能划分为不同的功能模块；分析所述FPGA中的每个功能模块占用的资源比例，以及确认每个功能模块的诊断覆盖率；基于所述每个功能模块占用的资源比例和诊断覆盖率，计算所述FPGA整体的诊断覆盖率。
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公开(公告)号：CN102938014B
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：CN201210322185.9
申请日：2012-09-03
申请人： 北京广利核系统工程有限公司 , 中国广核集团有限公司
IPC分类号： G06F19/00
摘要： 本发明公开一种四取二通道逻辑架构系统中PFD和PFH的计算方法，首先分别根据通用通道逻辑架构的共因失效公式算出PFD和PFH的共因失效概率，再分别计算出四通道中不同通道出现非共因危险失效的概率的公式，利用不同通道的非共因危险失效概率公式与相应的共因失效公式相加即可得到四通道系统架构的危险失效率计算方法。本发明经过验证与标准给出的结果完全一致，比可靠性基本理论方法得出的结果更符合标准的要求。不用建立模型可直接写出计算公式。本发明计算结果更加精确且耗时少。
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公开(公告)号：CN103559412A
公开(公告)日：2014-02-05
申请号：CN201310573294.2
申请日：2013-11-13
申请人： 北京广利核系统工程有限公司 , 中国广核集团有限公司
IPC分类号： G06F19/00
摘要： 本发明公开一种基于MooN架构获取定期试验周期的计算方法，将N个通道的正常状态与失效状态进行不同组合，以得到N个通道中N-M+1个通道失效的系统失效组合，其中，假设每个通道的失效率λ相同，针对安全系统的定期试验周期为T，定期试验带来的风险降低为Q，利用上述设定通过对通道的组合方式分析得到的结果，与T进行比较，当两者接近时即可得到待测系统的定期试验周期。本发明根据通用可靠性理论和核电中关于定期试验周期的计算方法，解决了在不同的试验策略下，不同的符合逻辑情况下的通用逻辑符合结构进行初始试验周期的确定方法，本发明思路方法明确，公式统一，能够适用于所有的逻辑结构。
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公开(公告)号：CN103646170A
公开(公告)日：2014-03-19
申请号：CN201310631726.0
申请日：2013-11-29
申请人： 北京广利核系统工程有限公司 , 中国广核集团有限公司
IPC分类号： G06F19/00
摘要： 本发明公开一种安全通信残差率的风险定量评估方法，获取当前安全通信层每小时传输的最大安全信息包数量v和最大信宿数m，以及将一个安全信息包的残差率和冗余通信数据的设计，转化为该安全信息包通信的残差率，将上述数值相乘即能够得到此安全通信层的残差率ΛSL(Pe)。本发明根据通用可靠性理论和基本残差率的计算方法，解决在安全通信层采用冗余通信的方式如何评估通信残差率的问题，得到的结果使通信残差率的评价更客观。弥补了原有残差率只考虑协议部分未考虑冗余设计的缺点。
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公开(公告)号：CN102938014A
公开(公告)日：2013-02-20
申请号：CN201210322185.9
申请日：2012-09-03
申请人： 北京广利核系统工程有限公司 , 中国广东核电集团有限公司
IPC分类号： G06F19/00
摘要： 本发明公开一种四取二通道逻辑架构系统中PFD和PFH的计算方法，首先分别根据通用通道逻辑架构的共因失效公式算出PFD和PFH的共因失效概率，再分别计算出四通道中不同通道出现非共因危险失效的概率的公式，利用不同通道的非共因危险失效概率公式与相应的共因失效公式相加即可得到四通道系统架构的危险失效率计算方法。本发明经过验证与标准给出的结果完全一致，比可靠性基本理论方法得出的结果更符合标准的要求。不用建立模型可直接写出计算公式。本发明计算结果更加精确且耗时少。
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