一种基于MooN架构获取定期试验周期的计算方法

    公开(公告)号:CN103559412B

    公开(公告)日:2016-09-07

    申请号:CN201310573294.2

    申请日:2013-11-13

    IPC分类号: G06F19/00

    摘要: 本发明公开一种基于MooN架构获取定期试验周期的计算方法,将N个通道的正常状态与失效状态进行不同组合,以得到N个通道中N‑M+1个通道失效的系统失效组合,其中,假设每个通道的失效率λ相同,针对安全系统的定期试验周期为T,定期试验带来的风险降低为Q,利用上述设定通过对通道的组合方式分析得到的结果,与T进行比较,当两者接近时即可得到待测系统的定期试验周期。本发明根据通用可靠性理论和核电中关于定期试验周期的计算方法,解决了在不同的试验策略下,不同的符合逻辑情况下的通用逻辑符合结构进行初始试验周期的确定方法,本发明思路方法明确,公式统一,能够适用于所有的逻辑结构。

    一种四取二通道逻辑架构系统中PFD和PFH的计算方法

    公开(公告)号:CN102938014B

    公开(公告)日:2016-06-22

    申请号:CN201210322185.9

    申请日:2012-09-03

    IPC分类号: G06F19/00

    摘要: 本发明公开一种四取二通道逻辑架构系统中PFD和PFH的计算方法,首先分别根据通用通道逻辑架构的共因失效公式算出PFD和PFH的共因失效概率,再分别计算出四通道中不同通道出现非共因危险失效的概率的公式,利用不同通道的非共因危险失效概率公式与相应的共因失效公式相加即可得到四通道系统架构的危险失效率计算方法。本发明经过验证与标准给出的结果完全一致,比可靠性基本理论方法得出的结果更符合标准的要求。不用建立模型可直接写出计算公式。本发明计算结果更加精确且耗时少。

    一种基于MooN架构获取定期试验周期的计算方法

    公开(公告)号:CN103559412A

    公开(公告)日:2014-02-05

    申请号:CN201310573294.2

    申请日:2013-11-13

    IPC分类号: G06F19/00

    摘要: 本发明公开一种基于MooN架构获取定期试验周期的计算方法,将N个通道的正常状态与失效状态进行不同组合,以得到N个通道中N-M+1个通道失效的系统失效组合,其中,假设每个通道的失效率λ相同,针对安全系统的定期试验周期为T,定期试验带来的风险降低为Q,利用上述设定通过对通道的组合方式分析得到的结果,与T进行比较,当两者接近时即可得到待测系统的定期试验周期。本发明根据通用可靠性理论和核电中关于定期试验周期的计算方法,解决了在不同的试验策略下,不同的符合逻辑情况下的通用逻辑符合结构进行初始试验周期的确定方法,本发明思路方法明确,公式统一,能够适用于所有的逻辑结构。