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公开(公告)号:CN119025420A
公开(公告)日:2024-11-26
申请号:CN202411077900.6
申请日:2024-08-07
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06F11/36
Abstract: 本公开涉及驱动开发与测试技术领域,具体涉及一种利用自动化测试工具实现轻量级操作系统的驱动程序开发包DDK接口自动化测试的方法和基于轻量级操作系统的DDK接口的自动化测试方法以及装置、系统,本方法通过在设置好的板级驱动文件中引用DDK接口测试列表头文件,实现对多个DDK单元测试文件的引用,并将设置好的板级驱动文件和DDK接口测试列表头文件保存在DDK后进行编译,以向轻量级操作系统提供第一编译DDK文件,使得轻量级操作系统能够利用第一编译DDK文件执行DDK接口的自动化测试。本公开在无需利用额外工具的前提下,能够验证针对轻量级操作系统所提供的全部DDK接口,并可以按需修改针对DDK接口的测试内容。
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公开(公告)号:CN119247918A
公开(公告)日:2025-01-03
申请号:CN202411150948.5
申请日:2024-08-21
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G05B23/02
Abstract: 本申请涉及嵌入式操作系统测试技术领域,公开了一种嵌入式操作系统启动时间测试方法、系统及上位机,该方法应用于上位机,上位机与程控电源及待测设备通信连接,待测设备安装有待测嵌入式操作系统,待测嵌入式操作系统中包含预先安装的辅助计时应用,该方法包括:控制程控电源向待测设备供电,接收程控电源返回的上电事件,根据上电事件获取电源上电时间;接收待测设备发送的由辅助计时应用标记的用户态进程开始事件,根据用户态进程开始事件获取启动完成时间;根据电源上电时间及启动完成时间确定待测嵌入式操作系统的启动时间。本申请公开的技术方案,利用上位机、程控电源及辅助计时应用实现测试的通用性,并支持多次重复测试。
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