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公开(公告)号：CN119025420A
公开(公告)日：2024-11-26
申请号：CN202411077900.6
申请日：2024-08-07
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06F11/36
Abstract: 本公开涉及驱动开发与测试技术领域，具体涉及一种利用自动化测试工具实现轻量级操作系统的驱动程序开发包DDK接口自动化测试的方法和基于轻量级操作系统的DDK接口的自动化测试方法以及装置、系统，本方法通过在设置好的板级驱动文件中引用DDK接口测试列表头文件，实现对多个DDK单元测试文件的引用，并将设置好的板级驱动文件和DDK接口测试列表头文件保存在DDK后进行编译，以向轻量级操作系统提供第一编译DDK文件，使得轻量级操作系统能够利用第一编译DDK文件执行DDK接口的自动化测试。本公开在无需利用额外工具的前提下，能够验证针对轻量级操作系统所提供的全部DDK接口，并可以按需修改针对DDK接口的测试内容。
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公开(公告)号：CN118689729A
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202410648892.X
申请日：2024-05-23
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC: G06F11/30
Abstract: 本说明书实施方式提供了一种线程唤醒检测方法、装置、计算机设备和存储介质，涉及计算机技术领域。方法包括：获取中断场景信息；中断场景信息表示第一线程和第二线程之间的通信中断场景；基于中断场景信息执行抢占线程，并在抢占线程结束后获取指定通信轮次的消息监听结果；抢占线程用于使第一线程和第二线程之间的通信中断，指定通信轮次包括当前轮次和/或当前轮次的后续轮次，消息监听结果表示第一线程和第二线程之间是否进行消息收发；基于中断场景信息和指定通信轮次的消息监听结果，确定中断唤醒检测结果；中断唤醒检测结果表示第一线程和第二线程之间通信中断唤醒是否正常，如此，可以提高线程通信中断唤醒检测的便捷性。
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公开(公告)号：CN118132404A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202410576360.X
申请日：2024-05-10
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司 , 中国电力科学研究院有限公司
Abstract: 本发明提供一种内存泄漏检测方法、装置和电子设备，属于计算机技术领域。方法包括：控制多个资源使用线程执行第一轮转切换；控制内存泄漏检测线程进行第一内存检测，得到第一内存检测值；重复执行以下步骤，直至达到设定时间阈值：控制多个资源使用线程执行第二轮转切换；控制内存泄漏检测线程进行第二内存检测，得到第二内存检测值；基于第一内存检测值和第二内存检测值的对比结果，确定内存泄漏检测结果。通过重复对比多个资源使用线程经过轮转切换后的内存检测值进行内存泄漏检测，由于多个资源使用线程通过短时间片切换来循环获取资源和释放资源，本发明能够在短时间内精准检测到每个时间点可能产生的内存泄漏。
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公开(公告)号：CN119247918A
公开(公告)日：2025-01-03
申请号：CN202411150948.5
申请日：2024-08-21
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G05B23/02
Abstract: 本申请涉及嵌入式操作系统测试技术领域，公开了一种嵌入式操作系统启动时间测试方法、系统及上位机，该方法应用于上位机，上位机与程控电源及待测设备通信连接，待测设备安装有待测嵌入式操作系统，待测嵌入式操作系统中包含预先安装的辅助计时应用，该方法包括：控制程控电源向待测设备供电，接收程控电源返回的上电事件，根据上电事件获取电源上电时间；接收待测设备发送的由辅助计时应用标记的用户态进程开始事件，根据用户态进程开始事件获取启动完成时间；根据电源上电时间及启动完成时间确定待测嵌入式操作系统的启动时间。本申请公开的技术方案，利用上位机、程控电源及辅助计时应用实现测试的通用性，并支持多次重复测试。
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公开(公告)号：CN117269716A
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202310961952.9
申请日：2023-08-01
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明实施例提供一种基于MCU的磁传感芯片测试装置及测试方法，属于磁传感芯片测试技术领域。所述装置包括：MCU单元，以及与MCU单元连接的被测芯片多方向单元、芯片电源单元、控制单元和测量单元。所述装置增加了被测磁传感芯片的样本数量，能够为多颗被测磁传感芯片提供不同的测试方向，实现了磁传感芯片的多个不同方向的同时测试，减少了改变磁传感芯片方向的次数以及变换线圈方向的次数，同时减少了测试组件体积，提高了测试的效率和对磁传感芯片性能评估的完整性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114860531B
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202210789737.0
申请日：2022-07-06
Applicant: 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明公开了一种安全芯片的故障检测方法、装置、电子设备及介质。该方法包括：确定故障检测文件中当前行数据的类型，并在当前行数据为检测策略数据时，确定检测策略数据的组成信息，其中，检测策略数据的组成信息包括指令成分，在指令成分为复合指令时，根据故障检测字典和指令成分生成检测指令，其中，故障检测字典根据故障检测文件中在先行数据的检测结果生成，根据检测指令和组成信息对待检测芯片进行故障检测。本发明的安全芯片的故障检测方法、装置、电子设备及介质，能够以复合指令的形式实现在先行数据的检测结果自动传递至当前行数据对应的故障检测中，避免了通过人工手动复制进行传递，减少了人工参与，提升了故障检测的自动化程度。
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公开(公告)号：CN119106436A
公开(公告)日：2024-12-10
申请号：CN202411250520.8
申请日：2024-09-06
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06F21/57
Abstract: 本发明公开了一种系统启动时的安全校验方法、装置、设备、介质和产品。该方法包括：响应于上电复位操作，确定第一类型软件和第二类型软件的软件启动顺序；按照软件启动顺序进行逐次循环校验，得到对应的校验结果；其中，校验至少包括下述之一：第一类型软件和第二类型软件之间的安全校验、接入系统的第三方机构校验、反校验；在校验结果通过的情况下，确定系统安全启动。本发明实施例，通过在系统启动过程中，确定所包含第一类型软件和第二类型软件的软件启动顺序，按照软件启动顺序进行逐次循环校验和反校验，形成三方循环校验的方式，实现系统的安全启动校验。
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公开(公告)号：CN117234417A
公开(公告)日：2023-12-15
申请号：CN202310952821.4
申请日：2023-07-31
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC: G06F3/06
Abstract: 本发明提供一种文件系统均衡擦写验证方法、装置和电子设备，属于计算机技术领域。方法包括：重复执行以下步骤直至达到预设次数：确定当前擦写的闪存扇区序号；将非易失性存储器中存储的闪存扇区序号对应的擦写次数进行加一操作；执行擦写程序以向闪存中写入大于一个扇区长度的数据；基于非易失性存储器中存储的所有闪存扇区序号的擦写次数，确定所有闪存扇区序号的擦写次数的平均值；基于每个闪存扇区序号的擦写次数与平均值的设定阈值范围的对比结果，确定文件系统均衡擦写的验证结果。本发明用以解决现有的文件系统的均衡擦写验证方法需依赖外部工具，并且验证方法不够直观有效的缺陷。
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公开(公告)号：CN118132404B
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN202410576360.X
申请日：2024-05-10
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司 , 中国电力科学研究院有限公司
Abstract: 本发明提供一种内存泄漏检测方法、装置和电子设备，属于计算机技术领域。方法包括：控制多个资源使用线程执行第一轮转切换；控制内存泄漏检测线程进行第一内存检测，得到第一内存检测值；重复执行以下步骤，直至达到设定时间阈值：控制多个资源使用线程执行第二轮转切换；控制内存泄漏检测线程进行第二内存检测，得到第二内存检测值；基于第一内存检测值和第二内存检测值的对比结果，确定内存泄漏检测结果。通过重复对比多个资源使用线程经过轮转切换后的内存检测值进行内存泄漏检测，由于多个资源使用线程通过短时间片切换来循环获取资源和释放资源，本发明能够在短时间内精准检测到每个时间点可能产生的内存泄漏。
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公开(公告)号：CN114860531A
公开(公告)日：2022-08-05
申请号：CN202210789737.0
申请日：2022-07-06
Applicant: 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明公开了一种安全芯片的故障检测方法、装置、电子设备及介质。该方法包括：确定故障检测文件中当前行数据的类型，并在当前行数据为检测策略数据时，确定检测策略数据的组成信息，其中，检测策略数据的组成信息包括指令成分，在指令成分为复合指令时，根据故障检测字典和指令成分生成检测指令，其中，故障检测字典根据故障检测文件中在先行数据的检测结果生成，根据检测指令和组成信息对待检测芯片进行故障检测。本发明的安全芯片的故障检测方法、装置、电子设备及介质，能够以复合指令的形式实现在先行数据的检测结果自动传递至当前行数据对应的故障检测中，避免了通过人工手动复制进行传递，减少了人工参与，提升了故障检测的自动化程度。
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