辐射探测装置、方法以及数据处理方法和处理器

    公开(公告)号:CN106596597B

    公开(公告)日:2019-10-11

    申请号:CN201611143083.5

    申请日:2016-12-08

    IPC分类号: G01N23/04

    摘要: 本发明提出一种辐射探测装置、方法以及数据处理方法和处理器,涉及辐射探测技术领域。其中,本发明的一种辐射探测装置包括:射线探测器;与射线探测器相连接的高速模数转化器ADC;和与高速ADC连接的数据处理器;其中,射线探测器把透射X射线与闪烁体作用后产生的光信号转化为电信号;高速ADC通过电信号波形采样获取波形数据;数据处理器根据波形数据确定单光子信号个数,进而确定采用积分信号和/或计数信号进行成像。这样的装置能够利用探测器的单光子探测能力根据波形数据确定单光子信号个数,进而判断采用波形数据的积分信号和/或计数信号进行成像,从而提高被测物体的辐射探测成像质量,提升系统的穿透力指标和物质分辨能力。

    探测器模块结构
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108398445A

    公开(公告)日:2018-08-14

    申请号:CN201810437654.9

    申请日:2018-05-09

    IPC分类号: G01N23/04

    摘要: 本发明公开了一种探测器模块结构,包括:探测器组件,包括探测器和与探测器连接的信号输出连接件;数据采集电路板,包括板体和信号输入连接件,板体的第一表面具有信号输入区,信号输入连接件设置于信号输入区,信号输出连接件与信号输入连接件连接;第一封盖,贴合于板体的与第一表面相对的第二表面;探测器封罩,罩设于探测器组件和信号输入连接件外;第一连接件,连接探测器封罩、板体和第一封盖;和第一密封元件,设置于探测器封罩与第一表面之间,用于密封探测器封罩和信号输入区所形成的区域。本发明可以提高探测器模块结构的环境适应性能和使用寿命。

    用于辐射成像的探测器设备

    公开(公告)号:CN102540234A

    公开(公告)日:2012-07-04

    申请号:CN201110453475.2

    申请日:2009-06-30

    IPC分类号: G01T1/185

    摘要: 本发明涉及一种用于制造用来射线探测和辐射成像的探测器装置的方法,所述方法包括:设置所述探测器装置的密封外壳、阳极板、多电极条板和电子学电路组件,其中将所述阳极板、所述多电极条板设置在密封外壳中,其特征在于,所述方法还包括:在所述密封外壳设置密封转接电路板,其中将所述密封转接电路板夹在底座和基板之间;将所述电子学电路组件置于密封外壳外部;使所述电子学电路组件和多电极条板通过所述密封转接电路板进行信号连接。本发明还涉及一种用于探测器装置进行射线探测和辐射成像的方法。

    探测器模块结构
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108398445B

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN201810437654.9

    申请日:2018-05-09

    IPC分类号: G01N23/04

    摘要: 本发明公开了一种探测器模块结构,包括:探测器组件,包括探测器和与探测器连接的信号输出连接件;数据采集电路板,包括板体和信号输入连接件,板体的第一表面具有信号输入区,信号输入连接件设置于信号输入区,信号输出连接件与信号输入连接件连接;第一封盖,贴合于板体的与第一表面相对的第二表面;探测器封罩,罩设于探测器组件和信号输入连接件外;第一连接件,连接探测器封罩、板体和第一封盖;和第一密封元件,设置于探测器封罩与第一表面之间,用于密封探测器封罩和信号输入区所形成的区域。本发明可以提高探测器模块结构的环境适应性能和使用寿命。

    全密封探测器
    8.
    发明公开
    全密封探测器 审中-实审

    公开(公告)号:CN115824281A

    公开(公告)日:2023-03-21

    申请号:CN202211672067.0

    申请日:2022-12-23

    IPC分类号: G01D11/24 G01D11/30

    摘要: 本发明公开了一种全密封探测器。探测器包括全密封壳体和探测器模块。全密封壳体包括底座和密封构架,通过底座和密封构架之间的连接可以构成全密封壳体,使得安装便捷,使用时变形小并且便利。

    用于辐射检查的探测器及探测装置

    公开(公告)号:CN113031044A

    公开(公告)日:2021-06-25

    申请号:CN201911363127.9

    申请日:2019-12-25

    IPC分类号: G01T1/20

    摘要: 本申请提供了一种用于辐射检查的探测器,包括:灵敏介质,被配置为与入射到探测器的入射光进行反应,从而产生高能辐射光和低能辐射光;高能光电转换器件,可以被配置为设置在所述灵敏介质的远离所述入射光的一端处,用于探测所述高能辐射光;以及,低能光电转换器件,可以被配置为设置在所述灵敏介质的靠近所述入射光的一端处,用于探测所述低能辐射光。

    双能探测器及辐射检查系统
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106483153A

    公开(公告)日:2017-03-08

    申请号:CN201611205087.1

    申请日:2016-12-23

    IPC分类号: G01N23/08 G01V5/00

    摘要: 本发明涉及一种双能探测器及辐射检查系统,双能探测器包括:探测器模块安装架(3)和多个探测器模块(4),所述探测器模块(4)包括高能探测器阵列(43)和低能探测器阵列(41),所述高能探测器阵列(43)与所述低能探测器阵列(41)相对于所述探测器模块安装架(3)上的同一安装平面并列设置。本发明可以简化高、低能探测器阵列所连接的光电二极管和印制电路板的布置,使得探测器模块安装架的必要厚度尺寸降低,从而使本发明双能探测器的安装和使用更加便利。另一方面,本发明中射线束可以独立地照射到互相并列的高、低能探测器阵列,这就一定程度上降低了高、低能探测器阵列在选型时的相互制约。