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公开(公告)号：CN113031044B
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN201911363127.9
申请日：2019-12-25
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01T1/20
摘要： 本申请提供了一种用于辐射检查的探测器，包括：灵敏介质，被配置为与入射到探测器的入射光进行反应，从而产生高能辐射光和低能辐射光；高能光电转换器件，可以被配置为设置在所述灵敏介质的远离所述入射光的一端处，用于探测所述高能辐射光；以及，低能光电转换器件，可以被配置为设置在所述灵敏介质的靠近所述入射光的一端处，用于探测所述低能辐射光。
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公开(公告)号：CN110333252B
公开(公告)日：2021-12-17
申请号：CN201810262091.4
申请日：2018-03-28
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/04 , G01N23/087 , G01B15/02
摘要： 本公开提供一种双能探测方法与装置。双能探测方法装置包括：X射线源，用于向被测物体发送X射线束；闪烁探测器，工作于积分模式，用于接收穿过所述被测物体的所述X射线束以生成第一电信号；切伦科夫探测器，位于所述闪烁探测器后方，工作于计数模式，用于接收穿过所述被测物体的所述X射线束以生成第二电信号；处理器，用于根据所述第一电信号以及所述第二电信号输出所述被测物体的图像、体积以及材质信息本公开提供的双能探测方法可以获得更清晰并包含更多信息的被测物体图像。
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公开(公告)号：CN113552640A
公开(公告)日：2021-10-26
申请号：CN202010253098.7
申请日：2020-04-02
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开涉及一种射线检查系统及散射校正方法。射线检查系统包括：射线源(1)，被配置为产生射线束流(10)；第一探测器阵列(2)，至少部分位于所述射线束流(10)的覆盖范围内；第二探测器阵列(3)，与所述第一探测器阵列(2)位于所述射线检查系统的检查对象(4)的同侧，且位于所述射线束流(10)的覆盖范围外，所述第二探测器阵列(3)被配置为接收所述射线束流(10)在透过所述检查对象(4)的过程中的散射信号；和处理器(5)，与所述第一探测器阵列(2)和所述第二探测器阵列(3)信号连接，被配置为根据所述散射信号对所述第一探测器阵列(2)的接收信号进行散射校正。
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公开(公告)号：CN108535770A
公开(公告)日：2018-09-14
申请号：CN201810437201.6
申请日：2018-05-09
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01T7/00
摘要： 本发明公开了一种余辉检测装置和余辉检测方法。余辉检测装置包括：X射线管；第一读出电路，用于与被检测探测器连接，检测时被检测探测器接受X射线束辐射，并向第一读出电路输出第一探测信号，第一读出电路根据第一探测信号形成并输出第一测量信号；残余射线探测器；第二读出电路，与残余射线探测器连接，残余射线探测器接受X射线束辐射并向第二读出电路输出第二探测信号，第二读出电路根据第二探测信号形成并输出第二测量信号；计算装置，与第一读出电路和第二读出电路分别信号连接并根据关断X射线管的电源后的第一测量信号和第二测量信号计算并输出余辉检测信号。本发明具有简便、可靠的优点。
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公开(公告)号：CN106653778B
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN201611247731.1
申请日：2016-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： H01L27/144 , G01T1/20
摘要： 本发明提出一种辐射探测器组件及其制造方法，辐射探测器组件包括一基体以及外封装层，其中所述基体包括闪烁体、光敏器件及内封装层：闪烁体两端分别具有入射面和出光面，所述入射面以及闪烁体的外周面上设有反射层；光敏器件包括光敏面及封装外壳，所述光敏面与所述出光面通过光学胶相耦合；内封装层粘结于所述反射层的外表面并密封包裹所述闪烁体与光学器件的耦合部位，外封装层化学沉积于基体外表面。本发明辐射探测器组件，延长了水分子扩散至光敏器件与出光面的耦合部位所需的路径长度，防止水分子造成的光学胶与器件分离的问题，提高了辐射探测器组件在高温高湿环境条件下的可靠性和使用寿命。
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公开(公告)号：CN116184484A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202111427640.7
申请日：2021-11-26
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01T7/00
摘要： 本公开提供了一种探测器装置和射线检测设备，其可以应用于辐射检测技术领域。该探测器装置包括：探测器组件，用于接收射线源产生的射线，并生成模拟信号；模拟电路模块，用于接收模拟信号并转换成数字信号，模拟电路模块具有相对设置的第一表面和第二表面，第一表面的第一区域与探测器组件可拆卸连接，第二表面适于与探测器装置的目标安装位置连接；以及数字电路模块，用于接收来自模拟电路模块的数字信号，第一表面的第二区域与数字电路模块可拆卸连接。
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公开(公告)号：CN115436989A
公开(公告)日：2022-12-06
申请号：CN202110625375.7
申请日：2021-06-04
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01T1/29
摘要： 本公开涉及一种束流分布专用探测装置和束流分布探测方法。该束流分布专用探测装置包括至少一个探测器模块，探测器模块包括线阵探测器和逻辑控制模组，其中，线阵探测器，被配置为根据逻辑控制模组的指示，采集束流数据；逻辑控制模组，被配置为对束流数据进行处理，根据处理后的束流数据判断束流状态是否满足预定要求；在束流状态不满足预定要求的情况下，对束流进行调整。本公开采用线阵探测器，使用方法简单，大大节省了调试时间。
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公开(公告)号：CN110474218A
公开(公告)日：2019-11-19
申请号：CN201810445535.8
申请日：2018-05-10
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： H01R43/00
摘要： 本公开提供一种带防护的柔性扁平电缆与连接部件的连接方法，包括如下步骤：将柔性扁平电缆的端部涂覆液态防护液，使得柔性扁平电缆的从其端部的端面到距离该端面第一距离的位置之间的第一部分都被液态防护液覆盖，在覆盖的防护液固化之前，在扁平电缆的端部的被防护液覆盖的第一部分处将扁平电缆与连接部件电连接，使覆盖的防护液固化。根据本公开的方法简易快速，成本低，并且能够提高扁平电缆的环境适应能力，保持信号传输稳定，延长电缆的使用寿命。
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公开(公告)号：CN110333252A
公开(公告)日：2019-10-15
申请号：CN201810262091.4
申请日：2018-03-28
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/04 , G01N23/087 , G01B15/02
摘要： 本公开提供一种双能探测方法与装置。双能探测方法装置包括：X射线源，用于向被测物体发送X射线束；闪烁探测器，工作于积分模式，用于接收穿过所述被测物体的所述X射线束以生成第一电信号；切伦科夫探测器，位于所述闪烁探测器后方，工作于计数模式，用于接收穿过所述被测物体的所述X射线束以生成第二电信号；处理器，用于根据所述第一电信号以及所述第二电信号输出所述被测物体的图像、体积以及材质信息本公开提供的双能探测方法可以获得更清晰并包含更多信息的被测物体图像。
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公开(公告)号：CN113281357B
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202110781545.0
申请日：2021-07-12
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01N23/04
摘要： 本公开提出一种辐射成像系统和方法，涉及辐射探测技术领域。本公开的一种辐射成像系统包括：光电二极管探测器，被配置为接收来自射线源的射线，并生成第一探测信号；第一成像设备，与光电二极管探测器连接，被配置为根据第一探测信号生成第一成像数据；计数探测器，位于光电二极管探测器的远离射线接收面的一侧，被配置为接收穿过光电二极管探测器的射线，生成第二探测信号；计数成像设备，与计数探测器连接，被配置为根据第二探测信号生成计数成像数据；和图像融合装置，被配置为根据第一成像数据和计数成像数据，获取第一融合图像，提高辐射探测质量。
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