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公开(公告)号：CN101930221A
公开(公告)日：2010-12-29
申请号：CN201010128968.4
申请日：2010-03-22
申请人： 哈尔滨工业大学
IPC分类号： G05B19/048 , G05B23/02
摘要： 基于BIST的数据采集系统及其实现采集、自测试的方法，它涉及数据采集技术领域，它解决了现有的数据采集器可测性低、可靠性低的问题。本发明的数据采集系统主要包括FPGA控制模块、DSP主控制器、混合边界扫描芯片、边界扫描控制芯片和测试信号发生器，本发明的方法主要由FPGA控制模块完成数据采集功能，由DSP主控制器实现数据采集系统在数据采集和自测试之间的切换控制，由测试信号发生器实现测试信号的发出，由边界扫描控制芯片实现对FPGA的测试。本发明为提高数据采集系统的可测性发展提供了基础。
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公开(公告)号：CN101893684A
公开(公告)日：2010-11-24
申请号：CN201010108917.5
申请日：2010-02-10
申请人： 哈尔滨工业大学
IPC分类号： G01R31/3167 , G01R31/3187
摘要： 基于片上系统SOC的BIST通用基础测试模块及测试系统及利用此系统的测试方法，它涉及一种混合电路的测试模块及测试方法，它解决了现有的自动测试设备存在的体积大、成本高、限制电流、测试不灵活的问题，测试功能模块由片上系统SOC、跟随器、模拟开关和电平转换电路连接而成。测试系统除包括测试功能模块外，还包括控制器。测试方法具体如下：一、片上系统SOC控制模拟开关由工作状态转换到测试状态；二、产生激励信号；三、对响应信号进行A/D采样，并存储采样结果；四、根据采样结果的数据传输方式进行数据处理并显示结果；五、片上系统SOC控制模拟开关测试状态转换到工作状态。本发明适用于混合电路的测试。
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公开(公告)号：CN102279357B
公开(公告)日：2013-11-06
申请号：CN201110171426.X
申请日：2011-06-23
申请人： 哈尔滨工业大学
摘要： 一种基于边界扫描技术的分解式电路互连测试方法，涉及一种电路互连测试方法，它解决了现有的电路互连测试方法的故障诊断的准确率低的问题。其方法：选取一个待测互连网络，并将该待测互连网络中的一个引脚选为测试激励引脚，将该测试激励引脚的输出功能打开，采用边界扫描机制，将激励数据发送到被选中的测试激励引脚上，产生测试响应后，采用边界扫描机制接收其它引脚的测试响应；根据测试响应对电路进行开路或短路故障诊断，获得该待测互连网络的测试结果。本发明适用于电路的互连测试。
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公开(公告)号：CN102279357A
公开(公告)日：2011-12-14
申请号：CN201110171426.X
申请日：2011-06-23
申请人： 哈尔滨工业大学
摘要： 一种基于边界扫描技术的分解式电路互连测试方法，涉及一种电路互连测试方法，它解决了现有的电路互连测试方法的故障诊断的准确率低的问题。其方法：选取一个待测互连网络，并将该待测互连网络中的一个引脚选为测试激励引脚，将该测试激励引脚的输出功能打开，采用边界扫描机制，将激励数据发送到被选中的测试激励引脚上，产生测试响应后，采用边界扫描机制接收其它引脚的测试响应；根据测试响应对电路进行开路或短路故障诊断，获得该待测互连网络的测试结果。本发明适用于电路的互连测试。
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公开(公告)号：CN101930221B
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：CN201010128968.4
申请日：2010-03-22
申请人： 哈尔滨工业大学
IPC分类号： G05B19/048 , G05B23/02
摘要： 基于BIST的数据采集系统及其实现采集、自测试的方法，它涉及数据采集技术领域，它解决了现有的数据采集器可测性低、可靠性低的问题。本发明的数据采集系统主要包括FPGA控制模块、DSP主控制器、混合边界扫描芯片、边界扫描控制芯片和测试信号发生器，本发明的方法主要由FPGA控制模块完成数据采集功能，由DSP主控制器实现数据采集系统在数据采集和自测试之间的切换控制，由测试信号发生器实现测试信号的发出，由边界扫描控制芯片实现对FPGA的测试。本发明为提高数据采集系统的可测性发展提供了基础。
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公开(公告)号：CN101893684B
公开(公告)日：2012-06-06
申请号：CN201010108917.5
申请日：2010-02-10
申请人： 哈尔滨工业大学
IPC分类号： G01R31/3167 , G01R31/3187
摘要： 基于片上系统SOC的BIST通用基础测试模块及测试系统及利用此系统的测试方法，它涉及一种混合电路的测试模块及测试方法，它解决了现有的自动测试设备存在的体积大、成本高、限制电流、测试不灵活的问题，测试功能模块由片上系统SOC、跟随器、模拟开关和电平转换电路连接而成。测试系统除包括测试功能模块外，还包括控制器。测试方法具体如下：一、片上系统SOC控制模拟开关由工作状态转换到测试状态；二、产生激励信号；三、对响应信号进行A/D采样，并存储采样结果；四、根据采样结果的数据传输方式进行数据处理并显示结果；五、片上系统SOC控制模拟开关测试状态转换到工作状态。本发明适用于混合电路的测试。
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公开(公告)号：CN101776721B
公开(公告)日：2012-01-18
申请号：CN201010108899.0
申请日：2010-02-10
申请人： 哈尔滨工业大学
IPC分类号： G01R31/00
摘要： 电容容差性故障检测仪，具体涉及一种电容故障检测仪，解决了现有电容检测技术中无法有效检测容差性电容故障的缺陷，它包括测试信号发生电路、低通滤波电路、测试响应处理电路、测试控制电路和故障显示电路，测试控制电路的控制输出端与测试信号发生电路的控制信号输入端相连，测试信号发生电路的信号输出端与低通滤波电路的信号输入端连接，低通滤波电路的信号输出端与测试响应处理电路的信号输入端连接，测试响应处理电路的信号输出端与测试控制电路的信号输入端连接，测试响应处理电路的信号输出端与故障显示电路的信号输入连接。应用本发明能对电容容差性故障进行有效的检测，能够检测电容发生容差变化大于10％的情况。本发明用于电容故障检测。
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公开(公告)号：CN101776721A
公开(公告)日：2010-07-14
申请号：CN201010108899.0
申请日：2010-02-10
申请人： 哈尔滨工业大学
IPC分类号： G01R31/00
摘要： 电容容差性故障检测仪，具体涉及一种电容故障检测仪，解决了现有电容检测技术中无法有效检测容差性电容故障的缺陷，它包括测试信号发生电路、低通滤波电路、测试响应处理电路、测试控制电路和故障显示电路，测试控制电路的控制输出端与测试信号发生电路的控制信号输入端相连，测试信号发生电路的信号输出端与低通滤波电路的信号输入端连接，低通滤波电路的信号输出端与测试响应处理电路的信号输入端连接，测试响应处理电路的信号输出端与测试控制电路的信号输入端连接，测试响应处理电路的信号输出端与故障显示电路的信号输入连接。应用本发明能对电容容差性故障进行有效的检测，能够检测电容发生容差变化大于10％的情况。本发明用于电容故障检测。
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