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公开(公告)号:CN119360924A
公开(公告)日:2025-01-24
申请号:CN202411958430.4
申请日:2024-12-30
Applicant: 安徽大学
Abstract: 本发明涉及DRAM电路设计技术领域,具体涉及一种减小位线耦合电容影响的DRAM阵列电路及模块。本发明包括:目标阵列、参考阵列、奇行灵敏放大器SAk、偶行灵敏放大器SAj、奇行预充电路PREk、奇行开关Sbl,k、奇行开关Sblb,k。本发明将DRAM阵列电路的位线按照奇偶行进行划分,通过对奇行位线增设额外的预充电路、并配合奇行位线与奇行灵敏放大器进行接通或断开,实现奇偶读取;本发明的奇偶读取相较于传统DRAM阵列读取,能够大幅度降低DRAM阵列耦合电容的影响,显著提升DRAM阵列读取结果准确率。本发明解决了传统DRAM阵列电路进行读取时受位线耦合电容影响大的问题。
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公开(公告)号:CN119832957A
公开(公告)日:2025-04-15
申请号:CN202411888853.3
申请日:2024-12-20
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C11/4067 , G11C7/12
Abstract: 本发明涉及DRAM电路设计技术领域,具体涉及基于位线开关和电容耦合的灵敏放大器、读取电路、模块。本发明公开了基于位线开关和电容耦合的DRAM灵敏放大器,包括:9个NMOS管N1~N9、2个PMOS管P1~P2、2个电容Cc1~Cc2。本发明设计了SCSA、并配合相应的控制逻辑,使其在对DRAM存储单元读取时设计了:预充阶段、失调校准阶段、电荷分享阶段、预感应阶段、主感应阶段,使位线BLT或BLB电位可以正确变化,保证了SCSA读取放大功能。相较于传统的DRAM灵敏放大器,本发明提供的SCSA实现了在元件数量增幅不大的情况下,使失调电压指标大幅度降低、有效增大了感测裕度。
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公开(公告)号:CN119360924B
公开(公告)日:2025-03-11
申请号:CN202411958430.4
申请日:2024-12-30
Applicant: 安徽大学
Abstract: 本发明涉及DRAM电路设计技术领域,具体涉及一种减小位线耦合电容影响的DRAM阵列电路及模块。本发明包括:目标阵列、参考阵列、奇行灵敏放大器SAk、偶行灵敏放大器SAj、奇行预充电路PREk、奇行开关Sbl,k、奇行开关Sblb,k。本发明将DRAM阵列电路的位线按照奇偶行进行划分,通过对奇行位线增设额外的预充电路、并配合奇行位线与奇行灵敏放大器进行接通或断开,实现奇偶读取;本发明的奇偶读取相较于传统DRAM阵列读取,能够大幅度降低DRAM阵列耦合电容的影响,显著提升DRAM阵列读取结果准确率。本发明解决了传统DRAM阵列电路进行读取时受位线耦合电容影响大的问题。
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