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公开(公告)号:CN105785409A
公开(公告)日:2016-07-20
申请号:CN201510998676.9
申请日:2015-12-24
Applicant: 广州市中海达测绘仪器有限公司
IPC: G01S19/41
Abstract: 一种RTK定位精度的预报方法及系统,获取电离层TEC预报信息;获取根据RTK定位精度信息及电离层TEC信息建立的RTK精度模型;所述RTK定位精度信息包括:时间、基线及RTK定位精度;所述电离层TEC信息包括:所述时间、所述基线及电离层TEC;根据所述电离层TEC预报信息及所述RTK精度模型,确定RTK预报精度。通过上述RTK定位精度的预报方法及系统,用户可以根据电离层TEC预报信息对RTK定位精度进行预测,得到预测结果,即待报时间的RTK预报精度,从而可根据预测结果作进一步处理。
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公开(公告)号:CN105785409B
公开(公告)日:2019-05-21
申请号:CN201510998676.9
申请日:2015-12-24
Applicant: 广州市中海达测绘仪器有限公司
IPC: G01S19/41
Abstract: 一种RTK定位精度的预报方法及系统,获取电离层TEC预报信息;获取根据RTK定位精度信息及电离层TEC信息建立的RTK精度模型;所述RTK定位精度信息包括:时间、基线及RTK定位精度;所述电离层TEC信息包括:所述时间、所述基线及电离层TEC;根据所述电离层TEC预报信息及所述RTK精度模型,确定RTK预报精度。通过上述RTK定位精度的预报方法及系统,用户可以根据电离层TEC预报信息对RTK定位精度进行预测,得到预测结果,即待报时间的RTK预报精度,从而可根据预测结果作进一步处理。
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