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公开(公告)号:CN1241280C
公开(公告)日:2006-02-08
申请号:CN02811568.6
申请日:2002-08-09
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H01M10/0431 , H01M2/0222 , H01M4/06 , H01M6/06 , H01M10/0427 , H01M2006/106 , Y10T29/49108 , Y10T29/4911
Abstract: 将正极板(11)与负极板(12)卷绕成扁平状,使得正极层叠面(22a~22e)与负极层叠面(23a~23f)隔着隔膜交替层叠。这时,在卷绕开始的面对面的正极层叠面(22a、22b)及负极层叠面(23a)、以及卷绕结束的面对面的正极层叠面(22e)及负极层叠面(23f)上,形成位置偏移检测孔(41a、41b、42、43、44),对卷绕的极板组进行X射线检查,根据孔位置的偏移来检测位置偏移。
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公开(公告)号:CN1515048A
公开(公告)日:2004-07-21
申请号:CN02811568.6
申请日:2002-08-09
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H01M10/0431 , H01M2/0222 , H01M4/06 , H01M6/06 , H01M10/0427 , H01M2006/106 , Y10T29/49108 , Y10T29/4911
Abstract: 将正极板(11)与负极板(12)卷绕成扁平状,使得正极层叠面(22a~22e)与负极层叠面(23a~23f)隔着隔膜交替层叠。这时,在卷绕开始的面对面的正极层叠面(22a、22b)及负极层叠面(23a)、以及卷绕结束的面对面的正极层叠面(22e)及负极层叠面(23f)上,形成位置偏移检测孔(41a、41b、42、43、44),对卷绕的极板组进行X射线检查,根据孔位置的偏移来检测位置偏移。
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