相位差膜的取向不均缺陷检测方法以及取向不均缺陷检测装置

    公开(公告)号:CN114096833B

    公开(公告)日:2024-05-10

    申请号:CN202080050402.6

    申请日:2020-06-30

    Abstract: 本发明的课题在于提供通过基于光学系统的定量评价来进行相位差膜的取向不均缺陷的检测和评价、从而能够提高评价再现性的相位差膜的取向不均缺陷检测方法以及取向不均缺陷检测装置。本发明的相位差膜的取向不均缺陷检测方法具有下述步骤(1)~(5)。(1)在正交尼科耳配置的2张偏光板之间以所述相位差膜的迟相轴相对于偏光板的吸收轴倾斜‑10°~10°的方式旋转地配置。(2)经由一方的偏光板对所述相位差膜照射检查光。(3)经由另一方的偏光板对相位差膜进行摄影而得到亮度图像。(4)相对于所述相位差膜的迟相轴在倾斜方向上对摄影到的亮度图像进行微分(差分)处理而强调边缘部分。(5)利用预定的阈值对边缘强调后的亮度图像进行二值化,得到亮像素或者暗像素,从该像素检测取向不均。

    液状物的评价方法和液状物的评价装置

    公开(公告)号:CN118974544A

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202380031446.8

    申请日:2023-03-08

    Abstract: 本发明的液状物的评价方法是至少含有溶剂、树脂和非反应添加物的液状物的评价方法,上述非反应添加物为荧光标记化合物,具备:取得上述液状物在任意激发波长下的荧光光谱的荧光光谱观测工序,以及,由取得的上述荧光光谱根据上述液状物中的上述荧光标记化合物与检查对象物的相互作用,取得与峰强度偏移度相关的数据的光谱解析工序。

    膜卷的制造方法和膜卷的制造中使用的凸部调整系统

    公开(公告)号:CN117460611A

    公开(公告)日:2024-01-26

    申请号:CN202280040193.6

    申请日:2022-03-14

    Abstract: 本发明的课题在于提供不发生卷状故障、能够将取向角变动抑制得小的适于采用宽幅膜加工的制造的膜卷的制造方法和膜卷的制造中使用的凸部调整系统。制造方法,是采用溶液或熔融流延法的膜卷的制造方法,其特征在于,至少具有:膜形成工序、所述膜表面的宽度方向上的凸部调整工序、所述膜的两端部的修整工序、和采用所述修整工序修整的膜的卷取工序,所述凸部调整工序是调整所述凸部的数量、高度和位置的工序,通过对所述膜施加局部的加热,从而使所述凸部的数量为宽度方向每1m为1~10个的范围内,使所述凸部的高度为0.05~0.50μm的范围内,调整所述凸部的位置以使得在所述膜表面的长度方向上连续地移动。

    相位差膜的取向不均缺陷检测方法以及取向不均缺陷检测装置

    公开(公告)号:CN114096833A

    公开(公告)日:2022-02-25

    申请号:CN202080050402.6

    申请日:2020-06-30

    Abstract: 本发明的课题在于提供通过基于光学系统的定量评价来进行相位差膜的取向不均缺陷的检测和评价、从而能够提高评价再现性的相位差膜的取向不均缺陷检测方法以及取向不均缺陷检测装置。本发明的相位差膜的取向不均缺陷检测方法具有下述步骤(1)~(5)。(1)在正交尼科耳配置的2张偏光板之间以所述相位差膜的迟相轴相对于偏光板的吸收轴倾斜‑10°~10°的方式旋转地配置。(2)经由一方的偏光板对所述相位差膜照射检查光。(3)经由另一方的偏光板对相位差膜进行摄影而得到亮度图像。(4)相对于所述相位差膜的迟相轴在倾斜方向上对摄影到的亮度图像进行微分(差分)处理而强调边缘部分。(5)利用预定的阈值对边缘强调后的亮度图像进行二值化,得到亮像素或者暗像素,从该像素检测取向不均。

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