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公开(公告)号：CN111551627A
公开(公告)日：2020-08-18
申请号：CN202010487370.8
申请日：2016-08-26
Applicant: 浜松光子学株式会社
Abstract: 本发明的一个方面所涉及的试样支撑体(2)为表面辅助激光解吸电离法用的试样支撑体，具有设置有从一个面(21a)贯通到另一个面(21b)的多个贯通孔(S)的基板(21)、和由导电性材料构成且至少覆盖一个面(21a)的导电层(23)，贯通孔(S)的宽度(d3)为1～700nm，基板(21)的厚度(d1)为1～50μm。
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公开(公告)号：CN111465843A
公开(公告)日：2020-07-28
申请号：CN201880076626.7
申请日：2018-10-05
Applicant: 浜松光子学株式会社
Abstract: 激光解吸电离法包括：第1工序，准备包括形成有在彼此相对的第1表面(2a)和第2表面(2b)开口的多个贯通孔(2c)的基板(2)、至少设置于第1表面的导电层和设置于多个贯通孔且在真空中具有不易挥发性的溶剂(81)的试样支承体(1)；第2工序，试样(S)载置于载置部(6)的载置面(6a)，以第2表面(2b)接触于试样的方式在试样(S)上配置试样支承体(1)；和第3工序，通过在试样(S)配置于载置部(6)与试样支承体(1)之间的状态下，向导电层施加电压且对第1表面(2a)照射激光，从而与溶剂混合并且从第2表面(2b)侧经由贯通孔(2c)移动至第1表面(2a)侧的试样(S)的成分被电离。
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公开(公告)号：CN111094965A
公开(公告)日：2020-05-01
申请号：CN201880060451.0
申请日：2018-08-03
Applicant: 浜松光子学株式会社
Abstract: 激光解吸电离法包括准备试样支撑体(1)的第1工序。试样支撑体(1)包括：基板(2)；电离基板(3)；以及支撑部(5)，其以电离基板(3)的第1表面(3a)与基板(2)彼此隔开的方式相对于基板(2)支撑电离基板(3)。在电离基板(3)的至少测量区域(R)形成有多个贯通孔(3c)。至少在第2表面(3b)上的贯通孔(3c)的周缘部设置有导电层(4)。此外，激光解吸电离法包括：对电离基板(3)的测量区域(R)滴落试样(S)的第2工序；和第3工序，其在试样(S)浸透于电离基板(3)后，对导电层(4)施加电压且对第2表面(3b)照射激光(L)，由此将试样(S)的成分电离。
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公开(公告)号：CN115485548A
公开(公告)日：2022-12-16
申请号：CN202180032076.0
申请日：2021-04-15
Applicant: 浜松光子学株式会社 , 大阳日酸株式会社 , 国立大学法人福岛大学
Abstract: 试样支承体(1)是用于试样的成分的离子化的试样支承体，并且具备：基板(2)，其具有第一表面(2a)、和与第一表面相反侧的第二表面(2b)、以及在第一表面和第二表面开口的多个贯通孔(2c)；导电层(5)，其至少设置于第一表面；以及衍生化剂(6)，其设置于多个贯通孔，并且用于将成分衍生化。
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公开(公告)号：CN110383056B
公开(公告)日：2022-04-05
申请号：CN201880016091.4
申请日：2018-03-01
Applicant: 浜松光子学株式会社
Abstract: 本发明的一个方面所涉及的质量分析装置(200)包括试样台(1)、激光照射部(201)和检测器(203)，试样台(1)以如下方式构成：包括载置试样(10)并且设置有从一个面(21a)贯通至另一个面(21b)的多个贯通孔(S)的基板(21)和至少覆盖在一个面(21a)上未设置贯通孔(S)的部分的导电层(23)的试样支承体(2)以另一个面(21b)与试样(10)相对的方式载置，激光照射部(201)以向一个面(21a)上的成像对象区域(R1)照射激光(L)的方式控制激光(L)的照射，检测器(203)在维持成像对象区域(R1)上的试样(10)的位置关系的状态下对通过激光(L)的照射而离子化的试样(10)进行检测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111406211A
公开(公告)日：2020-07-10
申请号：CN201880076606.X
申请日：2018-10-05
Applicant: 浜松光子学株式会社
Abstract: 激光解吸电离法包括：准备包括形成有在彼此相对的第1表面(2a)和第2表面(2b)开口的多个贯通孔的基板(2)和至少设置于第1表面的导电层的试样支承体(1)的第1工序；向多个贯通孔导入试样(S)和在真空中具有不易挥发性的溶剂(81)的第2工序；和通过向导电层施加电压且对第1表面照射激光而使试样的成分被电离的第3工序。
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公开(公告)号：CN110736784A
公开(公告)日：2020-01-31
申请号：CN201911035872.0
申请日：2016-08-26
Applicant: 浜松光子学株式会社
IPC: G01N27/64
Abstract: 本发明的一个方面所涉及的表面辅助激光解吸电离法包括：第一工序，其准备具有设置有从一个面(21a)贯通到另一个面(21b)的多个贯通孔(S)的基板(21)、和至少覆盖一个面(21a)的导电层(23)的试样支撑体(2)；第二工序，其将试样(10)载置于试样台(1)，且以另一个面(21b)与试样(10)相对的方式将试样支撑体(2)配置于试样(10)上；和第三工序，其通过向一个面(21a)照射激光(L)，使利用毛细管现象从另一个面(21b)侧经由贯通孔(S)而移动至一个面(21a)侧的试样(10)电离。
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公开(公告)号：CN111094963B
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN201880055740.1
申请日：2018-08-06
Applicant: 浜松光子学株式会社
Abstract: 本发明涉及一种激光解吸电离法，其具备下述工序：第一工序，准备试样支撑体(1)，该试样支撑体(1)具备形成有多个在彼此相对的第一表面(2a)及第二表面(2b)开口的贯通孔的基板(2)和至少设置于第一表面的导电层；第二工序，将试样(S)载置于载置部(6)的载置面(6a)，且以第二表面与试样接触的方式将试样支撑体配置在试样上；第三工序，将基质溶液(81)导入多个贯通孔；以及第四工序，在将试样配置于载置部和试样支撑体之间的状态下，一边对导电层施加电压一边对第一表面照射激光(L)，从而使与基质溶液混合并且从第二表面侧经由贯通孔移动到第一表面侧的试样的成分(S1)电离。
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公开(公告)号：CN116888466A
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN202180094318.9
申请日：2021-12-06
Applicant: 浜松光子学株式会社
IPC: G01N27/64
Abstract: 本发明的质量分析装置具备：试样台；照射部，其对试样照射能量线，在维持被照射能量线的区域的试样的位置信息的情况下使试样的成分离子化；引出电极，其通过与试样台的电位差来从试样的表面引出离子化试样；MCP，其放出相应于离子化试样的电子；摄像部，其取得基于通过MCP而放出的电子的图像；及控制部，其控制照射部、引出电极及摄像部的动作。控制部在由照射部进行的的能量线的照射后，在相应于检测对象成分的时刻，使引出电极的电位变化，且在相应于检测对象成分的期间，使摄像部取得作为分析对象的图像。
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