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发明公开
试样支承体、离子化方法和质量分析方法审中-实审

公开(公告)号：CN115485548A

公开(公告)日：2022-12-16

申请号：CN202180032076.0

申请日：2021-04-15

Applicant: 浜松光子学株式会社 , 大阳日酸株式会社 , 国立大学法人福岛大学

Inventor： 小谷政弘 , 大村孝幸 , 胁村明夏里 , 寺内勉 , 平修 , 内藤康秀

IPC: G01N27/62 , H01J49/04

Abstract: 试样支承体(1)是用于试样的成分的离子化的试样支承体，并且具备：基板(2)，其具有第一表面(2a)、和与第一表面相反侧的第二表面(2b)、以及在第一表面和第二表面开口的多个贯通孔(2c)；导电层(5)，其至少设置于第一表面；以及衍生化剂(6)，其设置于多个贯通孔，并且用于将成分衍生化。

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