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公开(公告)号：CN100356332C
公开(公告)日：2007-12-19
申请号：CN02158770.1
申请日：2002-12-27
Applicant: 清华大学 , 清华同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了辐射图像网络化协同检查系统及其实现方法，属于辐射成像中的图像处理技术领域。本发明可以实现多用户同时对一幅嫌疑图像进行同步或者异步协作操作，并且可以方便的对现有应用软件进行改造，具有很好的通用性和灵活性。本发明包括一台安装有服务器应用程序的主协查服务器和多台安装有客户应用程序、客户端代理软件的协查终端。所述主协查服务器通过网络调控各个协查终端的同步及异步操作和请求信息，所述主协查服务器本身也可作为协查终端。
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公开(公告)号：CN1937101A
公开(公告)日：2007-03-28
申请号：CN200510086456.5
申请日：2005-09-22
Applicant: 清华同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G21K1/02
CPC classification number: G21K1/04
Abstract: 一种用于调整X射线束流的准直器，属于辐射成像技术领域中对射线束的调整装置。它包括上、下调节机构，左、右调节机构，支撑件和与支撑件连接的调整板。其结构特点是，上、下调节机构是由限位压盖一、转动螺母一、T型丝杠和上、下滑动档块组成。左、右调节机构是由限位压盖二、转动螺母二、水平移动丝杠和左、右滑动档块组成。各限位压盖将各转动螺母限制在其内转动。T型丝杠与上、下滑动档块连接，水平移动丝杠与左、右滑动档块连接。实现分别对准直器的上下和左右对称调整，通过转动螺母，使各丝杠做直线运动而不产生转动，而获得不同射线束流的宽窄。可应用在不同的辐射成像系统的设备中。
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公开(公告)号：CN1936554A
公开(公告)日：2007-03-28
申请号：CN200510086460.1
申请日：2005-09-22
Applicant: 清华同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/00
CPC classification number: G01N23/046 , G01N2223/419
Abstract: 一种带有转盘的升降装置，适用于射线源对液体物品进行CT安全检查的设备之中。它包括直线滑轨、丝杠、与丝杠相匹配的螺母、滑块托架、电机一、电机二及转盘。其结构特点是，直线滑轨的两端分别设置上轴承座和下轴承座。丝杠置于直线滑轨中并由滑动轴承与上轴承座和下轴承座固定。丝杠的底端穿出下轴承座与电机一连接。滑动托架与置于丝杠上的螺母固定。滑块托架的外缘部分与直线滑轨活动嵌接形成线性约束。滑块托架的底平面上安装电机二，电机二的输出轴与置于滑块托架上可放置物品的转盘连接。同现有技术相比，本发明将旋转机构与升降机构合二为一，从而实现被检物体的自转与升降。具有运动精度和传动效率高、摩擦阻力小、噪音低的特点。
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公开(公告)号：CN1899219A
公开(公告)日：2007-01-24
申请号：CN200510012250.8
申请日：2005-07-22
Applicant: 清华大学 , 清华同方威视技术股份有限公司
IPC: A61B6/03
Abstract: 一种用于CT重建的旋转对称体素离散化方法，涉及断层影像重建技术领域。本发明方法的主要步骤为：1)根据重建分辨率的要求计算采样步距d；2)沿扫描旋转轴的轴线方向将有效重建高度离散成厚度为d的圆盘；3)对每层圆盘在截面直径为Nd的有效区域内进行扫描旋转半径方向离散化成N/2+1个圆环；4)计算每层内的体素数目Jmax=[πN/Θ]；5)在每层截面内对每个圆环进行圆周方向离散化；6)计算任意度投影角度下对应的系统矩阵参数；7)应用查表法计算投影/反投影；8)重建完成后，根据显示方式对旋转对称体素离散化的图像进行插值。本方法可在保证分辨率的前提下，减少CT重建算法中的投影/反投影所需的系统矩阵系数计算量和存储空间，提高CT重建速度。
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公开(公告)号：CN1140796C
公开(公告)日：2004-03-03
申请号：CN01118671.2
申请日：2001-06-08
Applicant: 清华大学 , 清华同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/083 , G01N23/18
Abstract: 本发明涉及一种用于检查大型工件缺陷的断层实时重建检查方法，首先得到被测工件的透视图像，然后将工件的标准透视图像与透视图像比较，根据检测要求分析可能存在缺陷的区域，再获得被测工件待检测断层的投影数据，根据该投影数据重建指定区域，显示该指定区域的图像，再根据CT扫描投影数据，对被测工件的待测断层进行多分辨率重建检查，以检查被测工件待测断层的缺陷。本发明可缩短重建及检查时间，有利于缺陷的快速定位。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1380544A
公开(公告)日：2002-11-20
申请号：CN01110624.7
申请日：2001-04-12
Applicant: 清华大学 , 清华同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明公开了一种辐射成像中的数据不一致性矫正方法。其步骤为:硬件安装尺寸保证探测器阵列的顶部安装几个参考探测器;在射线开始扫描被测物体之前,先进行校准测量,即扫描几行仅穿透空气生成的标准数据;射线穿透物体生成实际数据;进行列扫描数据的亮度矫正和不一致性矫正;将矫正后的数据传送给系统的控制站。同现有技术比,本发明矫正质量高,矫正程序简单,校准实时,而且不需要特定的矫正硬件装置。
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公开(公告)号：CN1994230A
公开(公告)日：2007-07-11
申请号：CN200510135935.1
申请日：2005-12-31
Applicant: 清华大学 , 清华同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种X－CT扫描系统。包括主控制及数据处理计算机、底座、物体转台及其机械控制装置、X射线发生装置和数据采集系统，其中探测器的探测器阵列相对于X射线发生装置的X射线源与物体转台中心连线垂直布置，且探测器阵列的一侧相对于X射线发生装置的X射线源与物体转台中心连线的延长线平齐或超出一部分，该超出部分的长度小于物体转台的半径。本发明X－CT扫描系统的优点和积极效果在于：本发明利用仅覆盖物体横截面一半以上面积的X射线投影数据重建出完整的物体图像，和传统CT扫描系统相比最多能够节省一半的探测器尺寸，在保证图像重建质量的前提下，简化了X－CT的扫描系统，减少了扫描的投影数据量和图像重建的计算量。
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公开(公告)号：CN1971414A
公开(公告)日：2007-05-30
申请号：CN200510123587.6
申请日：2005-11-21
Applicant: 清华大学 , 清华同方威视技术股份有限公司
IPC: G03B42/02
Abstract: 公开了一种成像系统，包括：包括至少一个射线源的射线发生装置，用于产生射线；数据采集装置，包括面对所述射线源设置的探测器阵列并用于通过接收穿透待检查物体的射线来获得投影数据；传送装置，用于在检查过程中使位于射线源和探测器阵列之间的待检查物体与射线源和探测器阵列做相对直线运动；以及控制和图像处理装置，用于控制所述射线发生装置、所述数据采集装置和传送装置，并从所述投影数据重建待检查物体的图像。本发明的成像系统，采用直线轨迹扫描，使用直线滤波反投影算法重建断层或立体图像，真正实现立体成像。本成像系统具有检查速度快、不需要旋转、没有圆轨道锥束CT中的大锥角问题等优点。
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公开(公告)号：CN100356333C
公开(公告)日：2007-12-19
申请号：CN02158771.X
申请日：2002-12-27
Applicant: 清华大学 , 清华同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了基于网络的应用程序协同工作、决策系统及其实现方法，属于应用程序及计算机网络领域。本发明支持网络化协同工作，并且可以方便的对现有应用软件进行改造，具有很好的通用性和灵活性。本发明包括一台安装有服务器应用程序的主协查服务器和多台安装有客户应用程序、客户端代理软件的协查终端。所述主协查服务器通过网络调控各个协查终端的同步及异步操作和请求信息，所述主协查服务器本身也可作为协查终端。
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公开(公告)号：CN101071110A
公开(公告)日：2007-11-14
申请号：CN200610076572.3
申请日：2006-05-08
Applicant: 清华大学 , 清华同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/083 , G01N23/04
CPC classification number: G01N23/046 , A61B6/027 , G01N2223/419 , G06T7/0008 , G06T7/97 , G06T2207/10081 , G06T2207/20016 , G06T2207/30112 , Y10S378/901
Abstract: 本发明涉及辐射检测技术领域，尤其涉及一种基于螺旋扫描立体成像的货物安全检查方法，应用于包括双能量射线源、转台、数据采集单元和主控及数据处理计算机的货物安全检查系统，该方法包括：A.对检查对象进行快速螺旋扫描，重建检查对象的物理参数分布图像；B.判断重建的图像中是否存在嫌疑区域，如果存在，则执行步骤C；否则，结束本流程；C.对存在的嫌疑区域进行计算机断层扫描，重建嫌疑区域的断层图像，根据重建的断层图像对检查对象进行安全检查。利用本发明，缩短了对检查对象的扫描时间，进而节约了对货物安全检查的时间，实现对货物的快速准确检查。另外，本发明实现成本低，非常有利于本发明的推广和应用。
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