一种晶体颗粒三维成像系统及方法

    公开(公告)号:CN105869179A

    公开(公告)日:2016-08-17

    申请号:CN201610392760.0

    申请日:2016-06-06

    IPC分类号: G06T7/00 G06T17/00

    CPC分类号: G06T7/0004 G06T17/00

    摘要: 本发明实施例提供了一种晶体颗粒三维成像系统及方法,属于成像领域。该晶体颗粒三维成像系统包括数据处理装置、至少三个成像装置和用于放置待测样品的平台。所述至少三个成像装置包括第一成像装置、第二成像装置和第三成像装置。第一成像装置的安装位置与第二成像装置的安装位置之间的连线为第一直线,第一成像装置的安装位置到平台的垂线为第二直线,第三成像装置的安装位置在所述第一直线和所述第二直线确定的第一平面外。本发明实施例提供的晶体颗粒三维成像系统能够有效地避免拍摄盲区,有利于获得更准确的待测样品的三维结构。

    一种晶体颗粒三维成像系统

    公开(公告)号:CN205809922U

    公开(公告)日:2016-12-14

    申请号:CN201620548045.7

    申请日:2016-06-06

    发明人: 曹建国 王学重

    IPC分类号: G06T7/00 G06T17/00

    摘要: 本实用新型提供了一种晶体颗粒三维成像系统,属于成像领域。该系统包括第一支撑台、第二支撑台、光源模块、光源控制器、用于对待测样品进行多视角拍摄的至少三个成像装置及用于显示并处理所述成像装置所拍摄图像的计算机,所述成像装置和所述光源控制器均与所述计算机耦合,所述光源模块与所述光源控制器耦合,所述成像装置设置在所述第一支撑台上,所述光源模块设置在所述第二支撑台上,光源模块发出的光束照射到所述待测样品,所述待测样品反射的光束入射到所述成像装置中成像。通过本实用新型提供的晶体颗粒三维成像系统可以有效地获得晶体颗粒的三维结构。