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公开(公告)号：CN117826221A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202311861529.8
申请日：2023-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开涉及一种分析检测装置及乏燃料后处理系统，其中，分析检测装置包括：基座；承载平台，沿水平面内相互垂直的第一方向和第二方向可移动地设于基座；加速器组件和辐射源，辐射源沿第二方向位于加速器组件的一侧，辐射源用于接收加速器组件发出的射线而产生粒子；测量组件，相对于基座固定安装，用于容纳被检物以实现检测模式；标定组件，可拆卸地设置，用于容纳标定物以实现标定模式；屏蔽体，用于对辐射源、测量组件和标定组件进行射线防护；和探测器组件，沿第一方向设在屏蔽体一侧；加速器组件、屏蔽体和探测器组件均设在承载平台上，承载平台被配置为带动屏蔽体沿第一方向以到达或离开防护位置。
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公开(公告)号：CN117607168A
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311810626.4
申请日：2023-12-26
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开提供一种中子毒物监测装置。中子毒物监测装置包括：容器，用于容纳包括中子毒物的待测液体；中子源，被配置为向待测液体发射中子；探测器，被配置为探测待测液体中的中子数和/或光子数；多道定标器，被配置为将探测器探测的中子数和/或光子数发送给中子毒物监测控制装置；中子毒物监测控制装置，被配置为控制中子源向待测液体发射中子，在控制中子源停止向待测液体发射中子后的时间范围内，控制探测器探测待测液体中的中子数或光子数，以得到多个探测值，利用本底数值对多个探测值中的每个探测值进行修正，以得到多个修正值，并利用多个修正值确定出待测液体中的中子毒物浓度；屏蔽设备，被配置为屏蔽待测液体和探测器受到的外界干扰。
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公开(公告)号：CN116224355A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202210774556.0
申请日：2022-07-01
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01S17/66 , G01S17/894 , G01N23/046
摘要： 本公开提供了一种对待测物中的目标对象进行追踪的方法及系统，其方法包括对透视图像中的目标对象进行识别，并确定目标对象在待测物中的三维模型的第一位置信息；利用移动查看装置构建待测物的三维外形图像，确定移动查看装置相对于三维外形图像的第二位置信息；根据第一位置信息和第二位置信息，获取目标对象相对于移动查看装置的三维坐标；以及将三维坐标关联至移动查看装置，通过移动查看装置实时查看移动查看装置至目标对象的相对位置，以引导移动查看装置的使用者靠近目标对象。其系统包括处理器及移动查看装置，处理器包括识别模块。
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公开(公告)号：CN113281357A
公开(公告)日：2021-08-20
申请号：CN202110781545.0
申请日：2021-07-12
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01N23/04
摘要： 本公开提出一种辐射成像系统和方法，涉及辐射探测技术领域。本公开的一种辐射成像系统包括：光电二极管探测器，被配置为接收来自射线源的射线，并生成第一探测信号；第一成像设备，与光电二极管探测器连接，被配置为根据第一探测信号生成第一成像数据；计数探测器，位于光电二极管探测器的远离射线接收面的一侧，被配置为接收穿过光电二极管探测器的射线，生成第二探测信号；计数成像设备，与计数探测器连接，被配置为根据第二探测信号生成计数成像数据；和图像融合装置，被配置为根据第一成像数据和计数成像数据，获取第一融合图像，提高辐射探测质量。
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公开(公告)号：CN108398444A
公开(公告)日：2018-08-14
申请号：CN201810437641.1
申请日：2018-05-09
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/04
摘要： 本发明公开了一种辐射检查系统和应用该辐射检查系统的辐射检查方法。该辐射检查系统具有标准检查模式和快速检查模式，包括固定检查设备，包括垂直视角检查装置，垂直视角检查装置在标准检查模式输出第一辐射扫描射线，在快速检查模式输出第二辐射扫描射线；和移动检查设备，相对于固定检查设备可移动，包括水平视角检查装置，水平视角检查装置在标准检查模式随移动检查设备沿被检车辆的长度方向移动并输出第三辐射扫描射线，在快速检查模式固定并输出第四辐射扫描射线；其中第三辐射扫描射线的输出能量和/或剂量高于第四辐射扫描射线。本发明可以兼顾对不同车辆进行辐射检查的穿透能力以及车辆的通过率要求。
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公开(公告)号：CN108226195A
公开(公告)日：2018-06-29
申请号：CN201711451934.7
申请日：2017-12-28
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/04
摘要： 本发明涉及CT检测技术领域，特别涉及一种CT检查系统和CT成像方法。本发明所提供的CT检查系统，包括扫描装置和成像装置，其中：扫描装置具有放射源装置和探测装置并在对待检物进行扫描的至少部分过程中进行非匀速转动；成像装置基于有效探测数据生成CT图像，有效探测数据为探测装置在每转动预设角度时的数据。在本发明中，CT检查系统的成像装置基于探测装置在每转动预设角度时的数据生成CT图像，相对于传统的图像采集方案，可以有效减少图像形变，提高检测结果的准确性。
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公开(公告)号：CN107966460A
公开(公告)日：2018-04-27
申请号：CN201711429492.6
申请日：2017-12-26
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC分类号： G01N23/005 , G01N2223/1066 , G01N2223/20 , G01N2223/316 , G01V5/0016
摘要： 本发明公开了一种辐射检查系统和辐射检查方法。辐射检查系统包括辐射源和射束调制装置，射束调制装置包括设置于辐射源的射束出射侧的第一准直结构和设置于第一准直结构的射束出射侧的第二准直结构，第二准直结构与第一准直结构相对可动地设置以改变第一准直结构的第一准直口和第二准直结构的第二准直口的相对位置，使射束调制装置在第一工作状态和第二工作状态之间切换，其中，在第一工作状态，射束调制装置将初始射束调制为扇形束，在第二工作状态，射束调制装置将初始射束调制为位置可变的笔形束。本发明的辐射检查系统和辐射检查方法可以兼顾检查效率和检查精度。
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公开(公告)号：CN105784737A
公开(公告)日：2016-07-20
申请号：CN201610186955.X
申请日：2016-03-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/04
摘要： 本发明公开了一种集装箱CT检查系统，包括扫描装置，所述扫描装置包括放射源装置和探测器阵列，所述扫描装置还包括内外双层设置的第一轨道和第二轨道，其中，所述放射源装置设置于所述第一轨道上，所述探测器阵列设置于所述第二轨道上。本发明实现了放射源装置和探测器阵列分别由不同的轨道支撑，改善圆环形旋转架需要承载的负荷很大的现状，对于第一轨道和第二轨道中每个轨道来说，强度要求相对于圆环形旋转架都大大降低，因此与现有技术的集装箱CT检查系统相比有效地降低了加工难度。
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公开(公告)号：CN118758980A
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202410785279.2
申请日：2021-07-12
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01N23/04
摘要： 本公开提出一种辐射成像系统和方法，涉及辐射探测技术领域。本公开的一种辐射成像系统包括：光电二极管探测器，被配置为接收来自射线源的射线，并生成第一探测信号；第一成像设备，与光电二极管探测器连接，被配置为根据第一探测信号生成第一成像数据；计数探测器，位于光电二极管探测器的远离射线接收面的一侧，被配置为接收穿过光电二极管探测器的射线，生成第二探测信号；计数成像设备，与计数探测器连接，被配置为根据第二探测信号生成计数成像数据；和图像融合装置，被配置为根据第一成像数据和计数成像数据，获取第一融合图像，提高辐射探测质量。
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公开(公告)号：CN114764069B
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202011639188.6
申请日：2020-12-31
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 本公开提供一种辐射检查系统，包括：集装箱(1)，其相对的侧壁上分别设有入口(A)和出口(B)；和辐射扫描成像设备(2)，设于集装箱(1)内且具有检查通道(G)，辐射扫描成像设备(2)包括射线源(21)，射线源(21)包括多个射线发生器(21’)，多个射线发生器(21’)被配置为以不同的角度发出射线束，以使辐射扫描成像设备(2)对从入口(A)至出口(B)经过检查通道(G)的待检查物体进行辐射扫描检查。
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