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公开(公告)号：CN111412218A
公开(公告)日：2020-07-14
申请号：CN201911391552.9
申请日：2019-12-30
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 测量设备和轴承。测量设备(S)包括：外筒(22)；轴体(23)，其能够在外筒(22)的内表面侧沿长度方向移动；多个轴承滚珠(24)，其布置在外筒(22)的内表面与轴体(23)的外表面之间；以及测量部(3)，其测量外筒(22)与轴体(23)之间的相对位置，并且第一区域(222)中的轴承滚珠(24)的第一密度比第二区域(223)中的轴承滚珠(24)的第二密度大，其中第一区域(222)从外筒(22)的一端开始并且具有比外筒(22)在长度方向上的全部长度短的第一长度(L1)，第二区域(223)具有比外筒(22)的全部长度短的第二长度(L2)，第二区域(223)以外筒(22)在长度方向上的中心位置为中心。
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公开(公告)号：CN111352177A
公开(公告)日：2020-06-30
申请号：CN201911308702.5
申请日：2019-12-18
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 一种可调声学梯度(TAG)透镜，包括声波产生元件和在由透镜壳体围绕的壳体腔中的折射流体。透镜壳体包括壳体端，其分别具有窗口构造、壳体端缘部分和增强轴向顺应部分。窗口构造包括窗口和窗口安装部分，其具有沿着轴向方向的整个窗口安装尺寸。增强轴向顺应部分联接在窗口安装部分和壳体端缘部分之间，并且包括减小厚度区域，减小厚度区域的特征在于材料厚度为相关的窗口安装尺寸的至多75％。当将周期驱动信号施加到声波产生元件时，所述轴向顺应部分构造为与壳体端缘部分相比，增强窗口安装部分的轴向挠度。
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公开(公告)号：CN106054954B
公开(公告)日：2020-06-30
申请号：CN201610214156.9
申请日：2016-04-07
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 一种探针测量力调整器，包括能够在X方向上移动的触针支撑部，其与固定部分离配置。板簧的第一端固定到触针支撑部的X(+)方向上的端部，板簧的第二端固定到所述固定部，板簧的主表面面对X方向。板簧的第一端固定到触针支撑部的X(‑)方向上的端部，该板簧的第二端固定到所述固定部，该板簧的主表面面对X方向。第一永磁体设置到触针支撑部的X(+)方向上的端部。第二永磁体设置到触针支撑部的X(‑)方向上的端部。第三永磁体设置到所述固定部，使得X方向上的磁力作用在第一永磁体和第三永磁体之间。第四永磁体设置到所述固定部，使得X方向上的磁力作用在第二永磁体和第四永磁体之间。
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公开(公告)号：CN111340751A
公开(公告)日：2020-06-26
申请号：CN201911199992.4
申请日：2019-11-29
Applicant: 国立大学法人东京大学 , 株式会社三丰
IPC: G06T7/00
Abstract: 本发明提供一种X射线CT中的CT体积的表面提取方法和装置。该X射线CT中的CT体积的表面提取方法和装置从通过X射线CT获取到的体数据中提取CT值固定的体素来生成等值面网格(M)，在网格(M)的各顶点(p)处计算顶点(p)的CT值的梯度向量(g)，在计算出的梯度向量(g)的正负方向上生成多个采样点(S)，计算所生成的各采样点(S)处的CT值的梯度范数(N)，使顶点移动至计算出的梯度范数为最大值(Nm)的采样点(Sm)，由此修正等值面的顶点(p)。
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公开(公告)号：CN106525622B
公开(公告)日：2020-06-09
申请号：CN201610808418.4
申请日：2016-09-07
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 一种硬度测试机，包括存储器，储存作为零件程序的包括坐标系和测试位置的测量条件的限定，它们关于标准参照样品的图像而被限定；图案搜索器，参照待测量的多个样品，使用基于所述标准参照样品的图像的图案图像来执行图案搜索过程，并且检测具有与所述标准参照样品的形状相同的形状的样品的数量以及具有相同形状的样品的位置和角度；图案限定器，基于具有相同形状的每个样品的位置和角度，对于具有相同形状的每个样品限定坐标系和测试位置；以及测量器，测量所述坐标系和测试位置已被限定的样品的硬度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108076285B
公开(公告)日：2020-05-22
申请号：CN201711128944.7
申请日：2017-11-15
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： P.G.格拉德尼克
IPC: H04N5/232
Abstract: 公开了一种用于控制包括具有第一和第二操作谐振频率的可变焦距(VFL)透镜、透镜控制器和相机的成像系统的方法。第一频率以成像系统中的像差为代价提供较大的光焦度变化和较大的聚焦范围。第二频率提供较小的光焦度变化和较小的聚焦范围，但是在成像系统中提供低像差。该方法包括：向透镜控制器提供扩展聚焦范围需求；以及作为响应，将透镜控制器配置为以第一谐振频率操作VFL透镜(例如，以提供大的自动聚焦搜索范围)。该方法还包括：向透镜控制器提供准确图像需求信号；以及作为响应，将透镜控制器配置为以第二谐振频率操作VFL透镜(例如，以提供低像差图像)。
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公开(公告)号：CN111142210A
公开(公告)日：2020-05-12
申请号：CN201911050897.8
申请日：2019-10-31
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 北川一树
IPC: G02B7/02
Abstract: 本发明包括设置成使得光轴在轴向方向上对准的多个透镜、保持多个透镜中的第一透镜的第一透镜框架以及保持多个透镜中的第二透镜的第二透镜框架。第一透镜框架与第二透镜框架接触并设置在第二透镜框架的在轴向方向上的一侧上。第二透镜框架包括从轴向方向上的另一侧到轴向方向上的一侧贯穿第二透镜框架的贯穿孔。空气经由贯穿孔被抽吸和排出，使得第一透镜框架和第二透镜框架通过真空吸附被临时地固定。
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公开(公告)号：CN111141200A
公开(公告)日：2020-05-12
申请号：CN201911058456.2
申请日：2019-11-01
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 用于扫描探头中的探针位置测量的感应式位置检测器(IPD)，其包括沿着中心轴线定位在探头中的线圈板配置，运动体积在线圈板配置的相对侧上延伸。线圈板配置包括N个顶部旋转感测线圈(RSCs)和顶部轴向感测线圈配置(ASCC)，以及N个底部RSC和底部ASCC。一对探针联接的导电扰动器在运动体积中沿Z(轴向)和X-Y(旋转)方向移动。线圈板配置的产生线圈(GC)产生变化的磁通量(例如，包含所有或至少一部分扰动器)，并且线圈信号指示扰动器和/或探针位置。在一些实施方式中，导线扰动器的面积可以大于产生线圈的面积，且导电扰动器可以各自包括多个同心的导电回路、螺旋线等。
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公开(公告)号：CN107782343B
公开(公告)日：2020-05-12
申请号：CN201710734221.5
申请日：2017-08-24
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： T.S.库克
IPC: G01D5/22
Abstract: 提供了一种电子位置编码器，包括刻度、检测器和信号处理配置。刻度沿着x轴方向延伸，并且包括信号调制刻度图案。检测器包括感测元件和包围内部线圈区域的场生成线圈。场生成线圈包括通过端部部分连接的第一和第二长形部分，第一和第二长形部分各自沿着x轴方向延伸。长形部分具有沿着y轴方向的标称生成迹线宽度尺寸，在各种实施例中，标称生成迹线宽度尺寸是标称内部线圈区域宽度尺寸的至少0.1倍。在各种实施方式中，检测器的导电屏蔽区域可以降低场生成线圈的端部部分的屏蔽的端部区段对于感测元件的影响。屏蔽的端部区段可以位于与长形部分不同的PCB层中。
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公开(公告)号：CN106199930B
公开(公告)日：2020-05-12
申请号：CN201610344887.5
申请日：2016-05-23
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G02B13/22
Abstract: 提供能够抑制部件数量的增加并且能够实现高精度光轴对准的远心光学装置。本发明的远心光学装置的特征在于其设置有：第一远心透镜面，其设置在物体侧；第二远心透镜面，其设置在像侧并且与所述第一远心透镜面共用焦点位置；和光路变更部，其在所述第一远心透镜面和所述第二远心透镜面之间设置在位于中心定位在所述焦点位置的光通过区域的外侧的外侧区域，所述光路变更部改变光路，从而防止入射至所述外侧区域的光束用于成像。
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