管理临时缺陷列表的方法

    公开(公告)号:CN101202088A

    公开(公告)日:2008-06-18

    申请号:CN200710167065.5

    申请日:2004-04-29

    Inventor: 黄盛凞 高祯完

    Abstract: 一种将临时缺陷列表记录在一次写入记录介质上的方法,一种再现该临时缺陷列表的方法,一种用于记录和/或再现临时缺陷列表的设备,以及一次写入记录介质。将用于缺陷管理的临时缺陷列表记录在一次写入记录介质上的方法包括:将当数据被记录在一次写入记录介质上时被创建的临时缺陷列表记录在一次写入记录介质的至少一簇中,并且检验在该至少一簇中是否产生缺陷。随后,该方法包括:将原始记录在缺陷簇中的数据重新记录在另一簇中,并且将指示记录临时缺陷列表的该至少一簇的位置的指针信息记录在一次写入记录介质上。

    保存记录介质的数据记录状态的方法

    公开(公告)号:CN101197169A

    公开(公告)日:2008-06-11

    申请号:CN200710167547.0

    申请日:2004-03-04

    Abstract: 一种保存一次写入记录介质的数据记录状态的一次写入记录介质、一种保存一次写入记录介质的数据记录状态的方法、一种包括也用于相同目的计算机可读记录代码的介质、和一种记录和/或再现装置。在该保存一次写入记录介质的数据记录状态的方法中,首先,将数据记录在该一次写入介质上。接着,产生表示已占用区域的记录状态数据,并将其记录在分配在该一次写入记录介质中的临时缺陷管理区域中。之后,接收最终确定命令以保存该一次写入记录介质的数据记录状态。然后,响应于该最终确定命令,将预定数据记录在临时缺陷管理区域中,以防止还在该一次写入记录介质上记录数据。因此,可以保存已最终确定的一次写入记录介质的数据记录状态。

    在光记录介质上记录数据的装置

    公开(公告)号:CN100382158C

    公开(公告)日:2008-04-16

    申请号:CN200610079078.2

    申请日:2002-12-16

    CPC classification number: G11B7/0062 G11B7/0055 G11B7/1267 G11B20/1426

    Abstract: 提供了一种在光记录介质上记录数据的装置。在所述在光记录介质上记录数据的装置中,包括记录波形发生器,用于产生具有包括多脉冲的擦除模式的一个记录波形,所述多脉冲具有第一电平和第二电平,其中,擦除模式的第一脉冲的功率电平被设置为多脉冲的第一电平或第二电平,擦除模式的结束端和记录模式的第一脉冲的起始点之间的功率电平被设置为多脉冲的第一电平或第二电平;和拾取单元,用于按照所产生的记录波形向光记录介质进行光照射以形成标记或间隔。因此,可以防止标记的形状变形,并可以改善标记的形状,结果,可以改善记录/再现特性。

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