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发明公开
一种基于电子背散射衍射的奥氏体钢的寿命评估方法无效

公开(公告)号：CN113203760A

公开(公告)日：2021-08-03

申请号：CN202110420771.6

申请日：2021-04-19

Applicant: 上海发电设备成套设计研究院有限责任公司

Inventor： 张作贵 , 王峥 , 侍克献 , 王苗苗 , 田根起 , 杨昌顺 , 符锐 , 王延峰

IPC: G01N23/20058 , G01N23/203 , G01N23/2055

Abstract: 本发明提供一种基于电子背散射衍射的奥氏体钢的寿命评估方法，所述寿命评估方法包括：(1)构建奥氏体钢的晶粒取向差角与奥氏体钢寿命的对应关系；(2)检测待测奥氏体钢的晶粒取向，计算待测奥氏体钢的晶粒取向差角；(3)根据步骤(1)所述对应关系，计算得到待测奥氏体钢的剩余寿命；所述寿命评估方法首次将奥氏体的晶粒取向差角与奥氏体钢寿命关联，并且无需大量取样，显著缩短了分析时间，能够从微观组织层面评价奥氏体钢的剩余寿命，预测的精度同样显著提高。

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