缺陷检查用图像处理装置和缺陷检查用图像处理方法

    公开(公告)号:CN102630299B

    公开(公告)日:2014-07-30

    申请号:CN201080048759.7

    申请日:2010-09-29

    Inventor: 广濑修

    Abstract: 本发明提供一种缺陷检查用图像处理装置等,其能够用产生的光线路径的不同变化来一次性以足够的精度检测出各种类型的缺陷。缺陷检查用图像处理装置(图像分析装置)(6)是对将移动中的成型片用区域相机(5)在时间上连续拍摄的图像数据进行处理的装置,包括:数据提取部(11),其对于图像数据上不同的多个位置,从不同的图像数据中分别提取相同位置的行数据;数据存储部(13),其按照图像数据上的每个位置将多个行数据在时序上进行排列,从而生成多个行合成图像数据;变化量计算部(15),其对多个行合成图像数据进行微分操作符运算,生成多个强调图像数据;相同部位判定提取部(16),其从多个强调图像数据中提取表示成型片的相同部位的强调图像数据;和累计部17,其按照每个像素将提取的强调图像数据的亮度值进行累计,从而生成缺陷检查用图像数据。

    缺陷检查系统及缺陷检查方法

    公开(公告)号:CN109297971B

    公开(公告)日:2022-10-21

    申请号:CN201810793863.7

    申请日:2018-07-18

    Abstract: 本发明提供缺陷检查系统及缺陷检查方法。在缺陷检查系统(1)中,由摄像部(3)拍摄出在输送方向(X)上亮度发生变化的二维图像,由列分割处理部(9)处理成使二维图像的相同位置的列依照时间序列的顺序排列而成的列分割图像的图像数据,由分类部(10)将不同的亮度的列分割图像分类为多个列分割图像组,由合并部(11)将在列分割图像中对检查对象(T)的相同位置进行拍摄得到的图像数据的像素值彼此合并,按列分割图像组生成图像合并数据,由分割输出部(12)按照预先设定的规则对图像合并数据进行分割并输出,按基于预先设定的规则进行的分割而使图像合并数据的图像的呈现方式不同,容易识别缺陷的类别。

    偏光薄膜的分类系统以及分类方法

    公开(公告)号:CN101980797A

    公开(公告)日:2011-02-23

    申请号:CN200980111169.1

    申请日:2009-03-26

    Abstract: 本发明提供一种偏光薄膜的分类系统以及分类方法。该分类系统进行对于一部分标有记号的多个片状薄膜(3)的分类,且具备:摄像图像的CCD摄像机(8);基于由CCD摄像机(8)摄像的图像来检测在片状薄膜(3)上存在的记号,并输出表示记号位置的记号检测信号(CH0、CH1)的图像处理装置(9);基于记号检测信号(CH0、CH1)来判断片状薄膜(3)上是否标有记号的PLC(10);以及基于PLC(10)的判断结果来将上述多个片状薄膜(3)分类成标有记号的片状薄膜(3)和没有标记号的片状薄膜(3)。由此,本发明能够不用人力而是自动地分类成标有记号的片状薄膜和没有标记号的片状薄膜。

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