公开(公告)号：CN1110744C

公开(公告)日：2003-06-04

申请号：CN96107590.2

申请日：1996-05-31

Applicant: 佳能株式会社

Inventor： 时冈正树 ,  田中淳 ,  吉村雄一郎 ,  柳泽亮三 ,  小林克行 ,  佐藤肇

IPC: G06F3/03

CPC classification number: G06F3/045 ,  G06F2203/04104

Abstract: 在电阻膜系统的坐标检测中，有可能检测同时指定二点的坐标。用电流监视器判断，在由二导电膜组成的面板上，是进行一点输入还是同时二点输入。如果判定是一点输入，就把输入点的坐标数据作为最迟的坐标数据而保持于一RAM中。如果判定是二点同时输入，就根据RAM中保持的坐标数据，和从二构成接触面板的导电膜获取的x与y方向上的经放大的电位，获取坐标数据；并且将此作为二点坐标数据，与保持于RAM中的坐标数据一起输出。

公开(公告)号：CN1383083A

公开(公告)日：2002-12-04

申请号：CN02121839.0

申请日：2002-02-20

Applicant: 佳能株式会社

Inventor： 清水和磨 ,  柳泽亮三 ,  笹子悦一 ,  马鸟至之 ,  森冈昌也 ,  宝田浩志 ,  小池和史

IPC: G06F17/50

CPC classification number: G06T19/00 ,  G06T2219/004 ,  G06T2219/012

Abstract: 在检查模制产品的传统处理中,通过使用属性信息,诸如容许差异来定义表明将要测量的部分的测量点,并创建测量程序,或使用手动测量仪器以进行测量。根据本发明,提供了一种信息处理设备支持一般测量操作的信息处理设备,所述测量操作包括通过利用被添加到由CAD仪产生的CAD模型的属性信息,如尺寸和尺寸容许度进行手动测量。