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公开(公告)号：CN119559517A
公开(公告)日：2025-03-04
申请号：CN202510125334.X
申请日：2025-01-27
Applicant: 北京市农林科学院信息技术研究中心
IPC: G06V20/10 , G01N21/25 , G06V10/766
Abstract: 本发明提供一种茶堆的光谱数据处理方法、装置及电子设备，应用于田间茶芽品质快速检测技术领域，上述方法包括：将茶堆混合光谱输入至双线性光谱模型，得到正面叶片光谱，其中，双线性光谱模型用于将茶堆混合光谱进行校正；对茶堆的正面叶片光谱进行求导，得到正面叶片光谱的导数集合，其中，求导用于消除茶堆的茶芽堆叠结构信息；将导数集合输入至采用径向基核函数的高斯过程回归模型，得到正面叶片品质，其中，高斯过程回归模型中的径向基核函数用于消除茶堆的正面叶片占比信息，高斯过程回归模型用于预测正面叶片品质；通过本发明能够消除茶堆混合光谱中茶芽堆叠结构和正面叶片占比差异对茶芽品质精确反演的影响。
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公开(公告)号：CN119476886A
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202510052990.1
申请日：2025-01-14
Applicant: 北京市农林科学院信息技术研究中心
Abstract: 本发明提供一种基于光谱遥感的作物追肥量确定方法和装置，应用于农业信息技术领域。该方法包括：通过光谱遥感方法获取目标作物的生长信息，所述生长信息包括种植生态区、作物品种、生长阶段以及植被指数；根据所述种植生态区和所述作物品种构建所述目标作物的标准参考植被指数曲线，并基于所述生长阶段从所述标准参考植被指数曲线中确定对应的标准参考植被指数；根据所述标准参考植被指数和所述植被指数确定所述目标作物的追肥量。
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公开(公告)号：CN119004871A
公开(公告)日：2024-11-22
申请号：CN202411482002.9
申请日：2024-10-23
Applicant: 北京市农林科学院信息技术研究中心
Abstract: 本发明涉及作物生长监测技术领域，提供了一种作物三维动态光谱数据模拟方法及装置，该方法包括：根据作物的生长数据构建生长曲线模型；生长数据包括叶位的潜在最大长度、叶位的潜在最大宽度、作物潜在最大高度、作物潜在最大茎粗和每日积温数据中的至少一项，生长曲线模型用于预测作物在任意时间的叶位长度、宽度、高度和茎粗数据，以生成单株作物模型；基于生长曲线模型根据第一配置参数生成的多个单株作物模型构建动态三维场景，对动态三维场景中作物和对应土壤的光谱属性进行配置和模拟，得到目标光谱数据。本发明所述方法提高了对作物生长过程中光谱模拟的准确性和光谱采集效率。
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公开(公告)号：CN118408636B
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410845774.8
申请日：2024-06-27
Applicant: 北京市农林科学院信息技术研究中心
Abstract: 本申请涉及辐射校正技术领域，提供一种光谱反射率实时辐射校正方法及装置。所述方法包括：获取光合有效辐射传感器测量的光合有效辐照度；光合有效辐射传感器包括余弦校正器；根据相同波长范围内光合有效辐照度和太阳下行辐照度之间的比例关系，得到目标波段的光合有效辐照度；目标波段是成像高光谱传感器获取的光谱波段中的任一波段，成像高光谱传感器的成像时刻与光合有效辐射传感器的测量时刻同步；对目标波段的光合有效辐照度进行加权调整，得到目标波段校正后的目标辐照度。本申请提供的光谱反射率实时辐射校正方法及装置可以实现复杂多变的天气条件下对目标地物的光谱反射率的低成本高精度实时获取，适用于光谱遥感的多变且复杂的场景中。
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公开(公告)号：CN118408636A
公开(公告)日：2024-07-30
申请号：CN202410845774.8
申请日：2024-06-27
Applicant: 北京市农林科学院信息技术研究中心
Abstract: 本申请涉及辐射校正技术领域，提供一种光谱反射率实时辐射校正方法及装置。所述方法包括：获取光合有效辐射传感器测量的光合有效辐照度；光合有效辐射传感器包括余弦校正器；根据相同波长范围内光合有效辐照度和太阳下行辐照度之间的比例关系，得到目标波段的光合有效辐照度；目标波段是成像高光谱传感器获取的光谱波段中的任一波段，成像高光谱传感器的成像时刻与光合有效辐射传感器的测量时刻同步；对目标波段的光合有效辐照度进行加权调整，得到目标波段校正后的目标辐照度。本申请提供的光谱反射率实时辐射校正方法及装置可以实现复杂多变的天气条件下对目标地物的光谱反射率的低成本高精度实时获取，适用于光谱遥感的多变且复杂的场景中。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114580834A
公开(公告)日：2022-06-03
申请号：CN202210044676.5
申请日：2022-01-14
Applicant: 北京市农林科学院信息技术研究中心
Abstract: 本发明提供一种耕地质量等级评价方法、装置及电子设备，所述方法包括：根据目标区域的点位数据和遥感数据，获取所述目标区域内任一耕地地块的评价指标集；根据所述评价指标集中各评价指标的赋值和预设权重，确定所述任一耕地地块的耕地质量综合指数；根据所述耕地质量综合指数，确定所述任一耕地地块的耕地质量等级。本发明基于遥感数据和点位数据，提取出对待测区域内各耕地地块进行质量评价的评价指标，以计算各耕地地块的耕地质量综合指数，用于对耕地地块的耕地质量等级进行评价，可以更加高效和精确的对耕地质量等级进行评价。
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公开(公告)号：CN114254964B
公开(公告)日：2022-05-17
申请号：CN202210189805.X
申请日：2022-03-01
Applicant: 北京市农林科学院信息技术研究中心
Abstract: 本发明提供一种水稻区域气候品质评估方法及系统，方法包括：根据各个种类水稻的关键生育期的气象数据建模元数据和大气数据建模元数据，确定训练样本；将训练样本输入到SVMR模型进行训练，以获取反演模型；将目标种类水稻的关键生育期的气象数据建模元数据和大气数据建模元数据输入到反演模型，以确定目标种类水稻的稻米的直链淀粉含量和蛋白质含量；根据目标种类水稻的稻米的直链淀粉含量和蛋白质含量，对目标种类水稻的区域气候品质进行评估。本发明通过将气象数据与大气数据相结合，全面的考虑多种环境因素对稻米品质的影响，从而实现对大区域尺度的水稻区域气候品质的全面、准确的评价，为水稻生产和种植提供指导和建议。
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公开(公告)号：CN111624165B
公开(公告)日：2025-02-21
申请号：CN202010431602.8
申请日：2020-05-20
Applicant: 北京市农林科学院信息技术研究中心 , 农芯科技(北京)有限责任公司
Abstract: 本发明实施例提供一种气象环境参数及光谱同步测量系统及方法，包括：气象环境检测装置、多波段光谱传感器和数据采集分析处理器；气象环境检测装置和多波段光谱传感器分别与数据采集分析处理器通信连接；数据采集分析处理器用于同步采集及分析被测作物的气象环境数据和光谱参数信息；气象环境数据是由气象环境检测装置获取的，光谱参数信息是由多波段光谱传感器获取的。本发明实施例提供的气象环境参数及光谱同步测量系统及方法，将多种气象传感器和多波段光谱传感器相结合，利用中央数据处理器同步采集两者的信息，解决了目前市场上气象信息与光谱信息采集不同步的问题，为更好的分析和预测作物营养缺失，提前进行科学决策提供有力的数据支撑。
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公开(公告)号：CN118865098A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202410760939.1
申请日：2024-06-13
Applicant: 北京市农林科学院信息技术研究中心
IPC: G06V20/10 , G06V20/17 , G06V10/26 , G06V10/764 , G06V10/82 , G06Q10/0639 , G06Q50/02
Abstract: 本发明提供基于遥感图像的植物苗期出苗质量评估方法及装置，方法包括：获取目标地块的遥感图像，将遥感图像输入至已训练的目标检测模型，获取植物幼苗识别结果；基于植物幼苗识别结果在遥感图像中确定出苗区域，出苗区域为遥感图像中包括目标地块中目标植物的幼苗的区域；基于植物幼苗识别结果对遥感图像中的出苗区域进行沃罗诺伊分割，得到多个子区域；基于子区域的面积对子区域进行分类，得到第一子区域、第二子区域和第三子区域，基于子区域的面积确定目标地块中目标植物的出苗质量评估结果出苗质量评估结果包括目标地块中目标作物的缺苗率和复苗率、出苗整齐度以及苗势活力。本发明可以实现对出苗质量的自动化评估。
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公开(公告)号：CN117872390B
公开(公告)日：2024-05-31
申请号：CN202410269801.1
申请日：2024-03-11
Applicant: 北京市农林科学院信息技术研究中心
Abstract: 本申请涉及高光谱激光雷达技术领域，提供一种图像融合方法、高光谱激光雷达传感器及系统。所述方法包括：利用GPS的原子钟时间校准激光扫描仪、光谱仪和惯性测量单元IMU的时间；控制激光扫描仪对探测区域进行扫描成像，得到三维点云图像，并控制激光扫描仪触发光谱仪对探测区域进行光谱成像，得到高光谱图像；控制GPS和IMU采集信号，得到GPS信号和IMU信号；将三维点云图像、高光谱图像、GPS信号和IMU信号发送至图像处理设备，以供图像处理设备基于GPS信号和IMU信号对三维点云图像和高光谱图像进行融合。本申请图像融合方法可以最大限度地消除高光谱图像和三维点云图像之间的几何误差，从而提高两图像的融合精度。
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