存储装置掉电保护的测试方法、测试装置以及存储介质

    公开(公告)号:CN113257330A

    公开(公告)日:2021-08-13

    申请号:CN202110699800.7

    申请日:2021-06-23

    Abstract: 本发明公开一种存储装置掉电保护的测试方法、测试装置以及存储介质,所述方法包括:获取预设测试流程和测试信息;基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化,获得优化后测试流程;获取预设测试参数,对所述预设测试参数进行优化,获得优化后测试参数;基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程。通过对传统的掉电测试方法进行改进,一方面,对现有掉电测试流程中的无效测试环节及非必须测试环节进行识别并对现有掉电测试流程进行优化,从而有效降低掉电测试流程的时间消耗;另一方面,对掉电测试过程中的测试参数进行优化,进一步降低在每个掉电测试环节过程中的时间消耗,从而大大减少整个掉电测试过程中的时间消耗,提高掉电测试效率。

    存储装置掉电保护的测试方法、测试装置以及存储介质

    公开(公告)号:CN113257330B

    公开(公告)日:2021-10-01

    申请号:CN202110699800.7

    申请日:2021-06-23

    Abstract: 本发明公开一种存储装置掉电保护的测试方法、测试装置以及存储介质,所述方法包括:获取预设测试流程和测试信息;基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化,获得优化后测试流程;获取预设测试参数,对所述预设测试参数进行优化,获得优化后测试参数;基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程。通过对传统的掉电测试方法进行改进,一方面,对现有掉电测试流程中的无效测试环节及非必须测试环节进行识别并对现有掉电测试流程进行优化,从而有效降低掉电测试流程的时间消耗;另一方面,对掉电测试过程中的测试参数进行优化,进一步降低在每个掉电测试环节过程中的时间消耗,从而大大减少整个掉电测试过程中的时间消耗,提高掉电测试效率。

    集成多款芯片的操作系统测试方法、装置及系统

    公开(公告)号:CN118897810B

    公开(公告)日:2025-02-28

    申请号:CN202411401823.5

    申请日:2024-10-09

    Abstract: 本申请公开了一种集成多款芯片的操作系统测试方法、装置及系统,属于芯片测试技术领域。方法包括:接收用户在测试脚本的运行面板的输入数据;测试脚本用于针对至少具有部分相同的功能指令的多款不同芯片进行测试;根据输入数据选择测试的目标芯片;使用测试脚本采用目标命令参数集对目标芯片的操作系统进行测试。本申请通过为至少具有部分相同的功能指令的多款不同芯片建立相同的测试脚本,通过改变输入数据和命令参数对不同芯片进行测试,实现了单一的测试流程对多种芯片的集成测试,并且不同芯片之间还能够进行数据交互,通过修改命令参数的值即可不同命令参数的测试,无需针对每个命令参数测试编写代码,减少了代码冗余,提高了测试效率。

    集成多款芯片的操作系统测试方法、装置及系统

    公开(公告)号:CN118897810A

    公开(公告)日:2024-11-05

    申请号:CN202411401823.5

    申请日:2024-10-09

    Abstract: 本申请公开了一种集成多款芯片的操作系统测试方法、装置及系统,属于芯片测试技术领域。方法包括:接收用户在测试脚本的运行面板的输入数据;测试脚本用于针对至少具有部分相同的功能指令的多款不同芯片进行测试;根据输入数据选择测试的目标芯片;使用测试脚本采用目标命令参数集对目标芯片的操作系统进行测试。本申请通过为至少具有部分相同的功能指令的多款不同芯片建立相同的测试脚本,通过改变输入数据和命令参数对不同芯片进行测试,实现了单一的测试流程对多种芯片的集成测试,并且不同芯片之间还能够进行数据交互,通过修改命令参数的值即可不同命令参数的测试,无需针对每个命令参数测试编写代码,减少了代码冗余,提高了测试效率。

    车载电子标签测试装置、测试方法和电子设备

    公开(公告)号:CN119358573A

    公开(公告)日:2025-01-24

    申请号:CN202411255327.3

    申请日:2024-09-09

    Abstract: 本发明提供一种车载电子标签测试装置、测试方法和电子设备,属于车载电子标签技术领域。其中装置包括:测试环境创建模块,用于根据第二测试类型选择指令创建ESAM逻辑单元测试所需要的第一测试环境和/或创建ICC逻辑单元测试所需要的第二测试环境;ESAM逻辑单元功能集模块,用于在第一测试环境中执行ESAM逻辑单元中的第一预设测试用例的测试;ICC逻辑单元功能集模块,用于在第二测试环境中执行ICC逻辑单元中的第二预设测试用例的测试;交叉功能模块,用于交替在第一测试环境和第二测试环境之间进行第三预设测试用例的测试。本发明用以解决现有车载电子标签测试均需使用两个软件测试,配置不灵活,自动化水平较低的缺陷。

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