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公开(公告)号：CN110765411A
公开(公告)日：2020-02-07
申请号：CN201910837270.0
申请日：2019-09-05
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
Abstract: 本发明提供了一种卷积神经网络中卷积运算数据复用装置，包括4个RAM、一个数据整形复用器、以及一组乘累加计算单元，其中，第一RAM和第二RAM为真双端口ram，用于存放输入的待计算图像，第三ram用于存储卷积核，第四ram于存储乘累加后的结果；数据整形复用器包括一组D触发器搭建的时序电路，实现了对数据的复用；乘累加计算单元包括乘累加单元，多组乘累加单元组合在一起并行计算，构成一个乘累加计算单元。本发明通过构建一个数据整形复用器，实现了前后两个时钟周期数据的复用，使得每个时钟周期只读取部分数据到数据整形复用器中，通过在数据整形复用器中适当的移位操作就可以组合成下一排计算所需要的全部数据。
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公开(公告)号：CN108600047A
公开(公告)日：2018-09-28
申请号：CN201810304171.1
申请日：2018-04-04
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
Inventor： 张进 , 吕平 , 刘勤让 , 沈剑良 , 宋克 , 朱珂 , 王永胜 , 李沛杰 , 张波 , 王锐 , 何浩 , 李杨 , 肖峰 , 毛英杰 , 赵玉林 , 虎艳宾 , 张霞 , 杜延康
IPC: H04L12/26
Abstract: 本发明提供了一种串行传输芯片及SERDES电路测试方法，所述串行传输芯片中，测试数据生成模块向SERDES电路发送第一测试数据；比较数据生成模块在接收到SERDES电路发送的指示信号时，向错误数据注入模块发送第二测试数据；错误数据注入模块根据错误注入控制信号向数据比较模块的第一输入端发送第二测试数据，或者，发送在对第二测试数据按照预设方式注入错误信息后得到的第三测试数据；数据比较模块用于接收SERDES电路的输出数据，将输出数据分别与第二测试数据和第三测试数据比较，得到测试结果，达到对测试过程注入可控的错误信息，分别在错误信息注入前和错误信息注入后校验并确定测试结果，提高故障芯片的检出率。
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公开(公告)号：CN111123073B
公开(公告)日：2022-05-10
申请号：CN201911383055.4
申请日：2019-12-27
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
Abstract: 本发明提供了一种硬件板卡快速自检装置，包括精密采样电阻、开关切换单元、运放单元、电流源、模数转换器、数字单元、以及处理显示单元，所述精密采样电阻连接第一开关切换单元的输入端，第一开关切换单元的输出端连接运放单元以及电流源的输入端，运放单元以及电流源的输出端连接第二开关切换单元的输入端，第二开关切换单元的输出端连接模数转换器的输入端，模数转换器的输出端连接第三开关切换单元的输入端，第三开关切换单元的输出端连接数字单元的输入端，数字单元的输出端连接处理显示单元的输入端。本发明使用精密采样电阻串联在电源模块和负载之间，采集电阻两端电参数，即可完成电源指标测试。
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公开(公告)号：CN108768720B
公开(公告)日：2021-11-05
申请号：CN201810512944.5
申请日：2018-05-24
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
IPC: H04L12/24 , H04L12/741
Abstract: 本发明提供了一种路由表信息配置系统和方法，涉及信息配置的技术领域，该系统包括：常规信息配置模块，广播配置模块和单端口配置模块；常规信息配置模块用于对常规路由表进行配置，其中，常规路由表中包括以下信息：目标默认端口的选择信息，RapidIO域信息和组播掩码信息；广播配置模块用于对广播路由表进行配置；单端口配置模块用于对单端口路由表进行配置，其中，单端口路由表中包括以下信息：单端口设备表信息和单端口域表信息。本发明解决了现有技术中由于一次只对一个寄存器的路由表信息进行配置和管理，导致的寄存器路由表信息配置效率低的技术问题，本发明达到了能够一次对多个寄存器进行配置和管理，提高寄存器信息配置效率的技术效果。
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公开(公告)号：CN108169661B
公开(公告)日：2020-07-10
申请号：CN201711455300.9
申请日：2017-12-28
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供了一种集成电路设计方法和集成电路闩锁效应测试方法，属于集成电路设计技术领域。其中，集成电路设计方法包括：从集成电路中选取指定的端口作为闩锁效应测试模式的控制端；建立控制端与集成电路中除复位端口之外的剩余端口之间的关联关系，以使控制端控制剩余端口在闩锁效应测试模式中的状态。本发明实施例提供的集成电路设计方法和集成电路闩锁效应测试方法，为集成电路设置了闩锁效应测试模式的控制端，利用该控制端控制集成电路的端口在闩锁效应测试模式中的状态，增加了电路内部信号的可控制性，可以更好的满足Latch up测试的需求，有利于客观准确地评价电路的抗闩锁效应能力，保证器件的质量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107942237A
公开(公告)日：2018-04-20
申请号：CN201711455619.1
申请日：2017-12-28
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
Inventor： 张波 , 吕平 , 刘勤让 , 沈剑良 , 宋克 , 朱珂 , 张进 , 王永胜 , 李沛杰 , 谭力波 , 虎艳宾 , 王锐 , 魏帅 , 何浩 , 李杨 , 毛英杰 , 赵玉林 , 张霞
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/2855
Abstract: 本发明实施例提出一种激励板与芯片老化监测系统，涉及芯片老化监测领域。激励板包括处理器、数据传输单元以及无线通信单元，处理器分别与数据传输单元、无线通信单元电连接，处理器用于通过数据传输单元向一老化板发送激励信号，数据传输单元用于接收老化板响应激励信号传输的反馈数据，并将反馈数据传输至处理器，处理器用于通过无线通信单元将反馈数据发送至一智能终端显示。本发明提供的激励板与芯片老化监测系统具有在进行芯片老化实验时可以具体参数信息以及能够实现远程监控的优点。
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公开(公告)号：CN109342921A
公开(公告)日：2019-02-15
申请号：CN201811172506.5
申请日：2018-10-09
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供了一种高速交换芯片的老化测试方法与系统，在动态老化测试时，将被测IC置于老化板，通过控制板为老化板提供激励信号，对被测IC进行高温及电压拉偏测试，对被测IC的数字部分进行数字引脚拉高拉低操作，对被测IC的模拟部分进行环回测试，对被测IC的交换模块进行收发包测试。本发明能够实现对高速交换芯片数字部分，模拟部分和交换部分的老化测试，对于早期失效产品的老化筛选测试项覆盖的更加全面，有利于在老化测试时就发现更多可能潜在问题，并通过实时监测显示高温动态老化各个功能测试项的结果能够及时发现每个功能模块的耐老化能力，通过实时存储老化信息有利于对测试结果进行分析。
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公开(公告)号：CN111865463B
公开(公告)日：2022-11-15
申请号：CN202010554711.9
申请日：2020-06-17
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
IPC: H04J3/06
Abstract: 本发明提供了一种板级间时钟无缝对接同源电路结构，包括两个时钟控制单元，每个时钟控制单元包括协处理器、增益可控放大器、压控振荡器、时钟延时调节模块和相位检测器，每个所述时钟延时调节模块的一端连接外部时钟，另一端连接压控振荡器，所述时钟延时调节模块的输出端连接相位检测器，所述相位检测器对两路输入的时钟信号的相位进行检测，根据两路时钟上升沿的偏差产生变化的脉冲序列输出到协处理器；所述协处理器连接增益可控放大器；所述增益可控放大器连接压控振荡器。本发明结合相位检测和跟踪原理，实现内部时钟和外部时钟平稳快速切换的功能，无需芯片或板卡断电、拆机、焊接，省时方便。
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公开(公告)号：CN108900181B
公开(公告)日：2022-07-29
申请号：CN201810741456.1
申请日：2018-07-02
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
IPC: H03K5/135
Abstract: 本发明提供了一种时钟延时调节装置和时钟延时调节系统，属于集成电路技术领域。本发明实施例提供的时钟延时调节装置和时钟延时调节系统，其中，时钟延时调节装置包括依次连接的第一信号输入调节模块、第一延时模块和第一信号输出调节模块；第一延时模块用于与控制芯片连接，根据控制芯片输入的延时差，使单端时钟信号的延迟设定时间，将延时后的时钟信号发送至第一信号输出调节模块。该装置可以增大延时时间的调节范围，提高频带调节的灵活性，满足低频带和高频带的使用，满足高速采样系统，提高时钟延时调节的精度。
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公开(公告)号：CN108600047B
公开(公告)日：2021-04-27
申请号：CN201810304171.1
申请日：2018-04-04
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
Inventor： 张进 , 吕平 , 刘勤让 , 沈剑良 , 宋克 , 朱珂 , 王永胜 , 李沛杰 , 张波 , 王锐 , 何浩 , 李杨 , 肖峰 , 毛英杰 , 赵玉林 , 虎艳宾 , 张霞 , 杜延康
IPC: H04L12/26
Abstract: 本发明提供了一种串行传输芯片及SERDES电路测试方法，所述串行传输芯片中，测试数据生成模块向SERDES电路发送第一测试数据；比较数据生成模块在接收到SERDES电路发送的指示信号时，向错误数据注入模块发送第二测试数据；错误数据注入模块根据错误注入控制信号向数据比较模块的第一输入端发送第二测试数据，或者，发送在对第二测试数据按照预设方式注入错误信息后得到的第三测试数据；数据比较模块用于接收SERDES电路的输出数据，将输出数据分别与第二测试数据和第三测试数据比较，得到测试结果，达到对测试过程注入可控的错误信息，分别在错误信息注入前和错误信息注入后校验并确定测试结果，提高故障芯片的检出率。
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