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公开(公告)号:CN115704106A
公开(公告)日:2023-02-17
申请号:CN202210915294.5
申请日:2022-08-01
Applicant: 昭和电工株式会社
Abstract: 目的在于得到硼的含有量少的SiC外延晶片及其制造方法。该SiC外延晶片具备SiC基板和层叠于所述SiC基板的SiC的外延层,所述外延层包含决定导电型的杂质和导电型与所述杂质不同的硼,所述外延层的中心处的所述硼的浓度小于5.0×1012cm‑3。
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公开(公告)号:CN109841542A
公开(公告)日:2019-06-04
申请号:CN201811380441.3
申请日:2018-11-20
Applicant: 昭和电工株式会社
IPC: H01L21/67 , H01L21/687 , C30B29/36 , C30B25/02
Abstract: 本发明涉及SiC外延生长装置。本实施方式涉及的SiC外延生长装置具备:基座,具有能够载置晶片的载置面;和加热器,在所述基座的与所述载置面相反侧与所述基座分离地设置,在俯视时与载置于所述基座的晶片的外周部重叠的位置,在与所述加热器的所述基座侧的第1面相对的所述基座的被辐射面形成有凹凸。
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公开(公告)号:CN111349908A
公开(公告)日:2020-06-30
申请号:CN201911239990.3
申请日:2019-12-06
Applicant: 昭和电工株式会社
IPC: C23C16/32 , C23C16/455 , C30B29/36 , C30B25/14
Abstract: 本发明提供一种SiC化学气相沉积装置,上述SiC化学气相沉积装置具有:炉体,其在内部构成沉积空间;和载置台,其位于上述沉积空间内,且在载置面载置SiC晶片,上述炉体具有:第1孔,其位于与上述载置面对置的上部,向上述沉积空间内导入原料气体;第2孔,其位于上述炉体的侧壁,供吹扫气体流入上述沉积空间内;以及第3孔,其位于上述炉体的侧壁的比上述第2孔靠下方的位置,将上述沉积空间内的气体排出,在上述第2孔的下端具备突出部,该突出部朝向上述沉积空间突出,调整上述原料气体的流动。
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公开(公告)号:CN111261502A
公开(公告)日:2020-06-09
申请号:CN201911163010.6
申请日:2019-11-25
Applicant: 昭和电工株式会社
IPC: H01L21/205 , H01L21/02
Abstract: 本发明的SiC外延生长装置具备载置SiC晶片的载置台和覆盖所述载置台的炉体,所述炉体具备原料气体供给口、第1吹扫气体供给口和第2吹扫气体供给口,所述原料气体供给口位于与所述载置台相对的位置,向所述生长空间供给原料气体,所述第1吹扫气体供给口包围所述原料气体供给口的周围,向所述生长空间供给吹扫气体,所述第2吹扫气体供给口包围所述第1吹扫气体供给口的周围,向所述生长空间供给吹扫气体。
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