公开(公告)号：CN117663966A

公开(公告)日：2024-03-08

申请号：CN202311135951.5

申请日：2023-09-05

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： S·A·哈西拉 ,  B·E·B·詹森 ,  金森宏之

IPC: G01B7/00

Abstract: 一种测量系统包括具有接触待测量工件的接触部分的测量探头。该测量探头在移动模式的至少一部分期间以第一更新速率操作，其中移动模式包括测量探头的使得接触部分远离工件移动和/或在距工件等于或大于阈值距离的距离处移动的移动。该测量探头在测量模式的至少一部分期间以第二更新速率(即，比该第一更新速率快)操作，其中该测量模式包括测量探头的使得接触部分朝向工件移动以获得测量结果的移动。在各种实施方式中，对第一更新速率和第二更新速率的组合使用有效地减少了测量探头的通电漂移。

公开(公告)号：CN111238433A

公开(公告)日：2020-06-05

申请号：CN201911191667.3

申请日：2019-11-28

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 古贺聪 ,  斋藤章宪 ,  金森宏之

IPC: G01B21/20

Abstract: 提供一种探针单元以及测定系统。在具有测定探针的探针单元中，信号处理电路具备：信号合成部，其对检测元件的输出进行处理并输出将接触部的在互相正交的3个方向中的各个方向上的位移成分进行合成所得到的合成信号；以及信号输出部，其在合成信号满足了阈值条件时，将数字触摸信号输出到探针单元的外部，其中，信号输出部具备将阈值条件与合成信号进行比较的3个比较部，在进行被测定物的测定时，信号输出部输出与第一比较部的输出及第二比较部的输出相应的数字触摸信号。由此，提供一种能够在确保高的抗噪声性的同时稳定地进行高精度的测定的测定探针以及测定系统。

公开(公告)号：CN101995216B

公开(公告)日：2014-08-20

申请号：CN201010249114.1

申请日：2010-08-06

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 金森宏之 ,  佐伯刚 ,  园部平人

IPC: G01B11/00 ,  G01M13/00

CPC classification number: H04N5/23212 ,  H04N5/2354

Abstract: 一种图像测量装置1包括选通照亮单元21、照相机22、移动机构23、和控制器3。所述控制器3包括焦点位置探测器4，后者通过控制移动机构23以沿着照相机22的光轴以预定的速度移动照相机22并且通过所述照相机22以在多个相对位置上摄取测量目标对象的图像，来探测所述照相机22的焦点位置。所述焦点位置探测器4包括照明控制单元41和对比度探测单元43，所述照明控制单元41控制选通照明单元21的发光时间，从而控制照明的亮度，所述对比度探测单元43探测由照相机22摄取的图像的对比度。