公开(公告)号：CN107305453A

公开(公告)日：2017-10-31

申请号：CN201710272674.0

申请日：2017-04-24

Applicant: 株式会社日本显示器

Inventor： 安达浩一郎

IPC: G06F3/041 ,  G06F3/044 ,  G09G3/00

Abstract: 本发明提供可降低摩尔纹发生的显示装置。其具有位于检测电极RL、显示图案、与检测电极连接的检测电路、形成有像素电极的多个子像素区域SPR、SPG、SPG、SPW，由多个子像素区域构成的像素区域PixB、PixW，和像素区域周期性地排列而成的显示区域。像素区域包含第一色的子像素区域SPG和第二色的子像素区域SPW作为多个子像素区域，子像素区域在显示区域中在Y方向排列，检测电极在俯视中形成有多个圆形或多边形的第一图案，检测电极在显示区域内包含与检测电路电连接的第一区域RLP，与检测电路隔开的第二区域RLN，第一区域RLP在与X方向延伸，连接相邻的所述多个第一图案的中心间的假想线ILP在X方向延伸。

公开(公告)号：CN104076998A

公开(公告)日：2014-10-01

申请号：CN201410114048.5

申请日：2014-03-25

Applicant: 株式会社日本显示器

Inventor： 安达浩一郎

IPC: G06F3/044 ,  G02F1/1333 ,  G02F1/1343

CPC classification number: G06F3/044 ,  G06F3/0412 ,  G06F3/0418 ,  G09G3/36

Abstract: 本发明提供一种在抑制触摸检测电极导致的在显示面板上看到莫尔条纹的同时还可进行触摸检测的带触摸检测功能的显示装置以及电子设备。带触摸检测功能的显示装置的多个触摸检测电极包括：触摸检测电极、以及在垂直于基板表面的方向上设置于没有触摸检测电极的区域的透光性导电体的伪电极。伪电极包括：以伪电极片在与第一方向正交的第二方向上相邻的方式分割为多个的、作为没有透光性导电体的区域的伪电极的第一方向狭缝；以及以伪电极片在第一方向上相邻的方式分割为多个的、作为没有透光性导电体的区域的伪电极的第二方向狭缝。

公开(公告)号：CN103914198A

公开(公告)日：2014-07-09

申请号：CN201310739415.6

申请日：2013-12-26

Applicant: 株式会社日本显示器

Inventor： 安达浩一郎

IPC: G06F3/044 ,  G06F3/041 ,  G02F1/1333

CPC classification number: G06F3/0416 ,  G02F1/13338 ,  G02F1/133512 ,  G02F1/134336 ,  G02F2201/123 ,  G06F3/0412 ,  G06F3/044 ,  G06F2203/04107 ,  G06F2203/04108

Abstract: 本发明提供了在抑制触摸检测电极产生的显示面板的干扰条纹的识别的同时能够进行触摸检测的带有触摸检测功能的显示装置以及电子设备。带有触摸检测功能的显示装置的多个触摸检测电极具备透明导电体的检测电极图案（61）。检测电极图案（61）包括作为不具有透明导电体的区域的槽（SL），多个槽（SL）在扫描信号线（GCL）延伸的方向上以规定的间隔的槽节距且沿着与扫描信号线（GCL）不同的方向延伸，槽节距（LX）是多个像素电极被排列的像素（Pix）的规定的像素节距（GL）的自然数倍。

公开(公告)号：CN111624820B

公开(公告)日：2023-04-07

申请号：CN202010121295.3

申请日：2020-02-26

Applicant: 株式会社日本显示器

Inventor： 安达浩一郎 ,  棚濑健司

IPC: G02F1/1339 ,  G02F1/1335 ,  G02F1/1362

Abstract: 本申请提供抑制显示质量下降的显示装置。本实施方式的显示装置具备：第一显示部，具有第一像素；第二显示部，具有第二像素；第一遮光部，包围所述第一显示部和所述第二显示部；第二遮光部，设置于所述第一显示部和所述第二显示部之间；液晶层，设置于所述第一显示部和所述第二显示部；第一密封件，与所述第一遮光部重叠，将所述液晶层密封于所述第一显示部和所述第二显示部；以及第二密封件，与所述第二遮光部重叠，所述第二密封件具有连通所述第一显示部和所述第二显示部的至少一个开口。

公开(公告)号：CN115700408A

公开(公告)日：2023-02-07

申请号：CN202210779972.X

申请日：2022-07-04

Applicant: 株式会社日本显示器

Inventor： 安达浩一郎

IPC: G02F1/1335 ,  H10K59/12 ,  H10K59/38

Abstract: 本发明的实施方式涉及黑矩阵基板及其制作方法以及具有黑矩阵基板的显示装置。提供能应用于超高清晰的显示装置的带遮光膜的基板及其制作方法。带遮光膜的基板具备基板、位于基板上并具备多个开口的遮光膜、以及配置在多个开口的多个彩色滤光片。遮光膜包含基板上的基膜、基膜上的金属膜、以及位于基膜与金属膜之间且与金属膜相比光反射率较低的低反射膜。基膜能够包含树脂和无机化合物中的至少一者。

公开(公告)号：CN111624803A

公开(公告)日：2020-09-04

申请号：CN202010121746.3

申请日：2020-02-26

Applicant: 株式会社日本显示器

Inventor： 安达浩一郎

IPC: G02F1/1335 ,  G02F1/1339 ,  G02F1/1343 ,  G02F1/1345

Abstract: 本发明涉及显示装置，实施方式涉及的显示装置具备：第一显示部，具备第一像素；第二显示部，与所述第一显示部相邻设置，并且具备第二像素；以及遮光部，分别包围所述第一显示部以及所述第二显示部，所述遮光部具有包围所述第一显示部以及所述第二显示部中至少一方的第一狭缝。

公开(公告)号：CN103294256B

公开(公告)日：2018-08-24

申请号：CN201310039500.1

申请日：2013-01-31

Applicant: 株式会社日本显示器

Inventor： 安达浩一郎

IPC: G06F3/041 ,  G06F3/044 ,  G02F1/1343 ,  G02F1/1333

CPC classification number: G06F3/044 ,  G06F3/041 ,  G06F3/0412 ,  G06F2203/04108

Abstract: 本发明公开了邻近检测装置、邻近检测方法及电子设备。其中，该邻近检测装置，包括：显示单元，具有显示图像表面，在所述显示图像表面中多个像素电极以矩阵形布置；以及邻近操作检测单元，在其中在叠在所述显示图像表面的位置处布置用于邻近操作检测的透明电极从而形成操作表面，形成所述透明电极的导电薄膜图案的线性图案的间距等于或小于所述像素电极在一个方向上的布置间距。

公开(公告)号：CN104076998B

公开(公告)日：2017-05-31

申请号：CN201410114048.5

申请日：2014-03-25

Applicant: 株式会社日本显示器

Inventor： 安达浩一郎

IPC: G06F3/044 ,  G02F1/1333 ,  G02F1/1343

CPC classification number: G06F3/044 ,  G06F3/0412 ,  G06F3/0418 ,  G09G3/36

Abstract: 本发明提供一种在抑制触摸检测电极导致的在显示面板上看到莫尔条纹的同时还可进行触摸检测的带触摸检测功能的显示装置以及电子设备。带触摸检测功能的显示装置的多个触摸检测电极包括：触摸检测电极、以及在垂直于基板表面的方向上设置于没有触摸检测电极的区域的透光性导电体的伪电极。伪电极包括：以伪电极片在与第一方向正交的第二方向上相邻的方式分割为多个的、作为没有透光性导电体的区域的伪电极的第一方向狭缝；以及以伪电极片在第一方向上相邻的方式分割为多个的、作为没有透光性导电体的区域的伪电极的第二方向狭缝。

公开(公告)号：CN103914198B

公开(公告)日：2017-03-01

申请号：CN201310739415.6

申请日：2013-12-26

Applicant: 株式会社日本显示器

Inventor： 安达浩一郎

IPC: G06F3/044 ,  G06F3/041 ,  G02F1/1333

CPC classification number: G06F3/0416 ,  G02F1/13338 ,  G02F1/133512 ,  G02F1/134336 ,  G02F2201/123 ,  G06F3/0412 ,  G06F3/044 ,  G06F2203/04107 ,  G06F2203/04108

Abstract: 本发明提供了在抑制触摸检测电极产生的显示面板的干扰条纹的识别的同时能够进行触摸检测的带有触摸检测功能的显示装置以及电子设备。带有触摸检测功能的显示装置的多个触摸检测电极具备透明导电体的检测电极图案61）。检测电极图案（61）包括作为不具有透明导电体的区域的槽（SL），多个槽（SL）在扫描信号线GCL）延伸的方向上以规定的间隔的槽节距且沿着与扫描信号线（GCL）不同的方向延伸，槽节距LX）是多个像素电极被排列的像素（Pix）的规定的像素节距（GL）的自然数倍。

公开(公告)号：CN103294256A

公开(公告)日：2013-09-11

申请号：CN201310039500.1

申请日：2013-01-31

Applicant: 株式会社日本显示器西

Inventor： 安达浩一郎

IPC: G06F3/041 ,  G06F3/044 ,  G02F1/1343 ,  G02F1/1333

CPC classification number: G06F3/044 ,  G06F3/041 ,  G06F3/0412 ,  G06F2203/04108

Abstract: 本发明公开了邻近检测装置、邻近检测方法及电子设备。其中，该邻近检测装置，包括：显示单元，具有显示图像表面，在所述显示图像表面中多个像素电极以矩阵形布置；以及邻近操作检测单元，在其中在叠在所述显示图像表面的位置处布置用于邻近操作检测的透明电极从而形成操作表面，形成所述透明电极的导电薄膜图案的线性图案的间距等于或小于所述像素电极在一个方向上的布置间距。