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公开(公告)号：CN116893538A
公开(公告)日：2023-10-17
申请号：CN202310273225.3
申请日：2023-03-20
Applicant: 株式会社日本显示器
Inventor： 安达浩一郎
IPC: G02F1/1343
Abstract: 在兼具反射型和透射型的显示功能的液晶显示装置中实现画质的提高。液晶显示装置具有：阵列基板，包括由多个像素电极矩阵状地排列而成的像素阵列；以及相对基板，与阵列基板相对，并包括与多个像素电极重叠的相对电极。相对电极在与多个像素电极的每个重叠的区域具有开口部，多个像素电极具有相互相邻是四个像素电极，所述四个像素电极的端部具有互相对角状地相对且扩展了所述四个像素电极的间隔的端部形状。
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公开(公告)号：CN113534545A
公开(公告)日：2021-10-22
申请号：CN202110408585.0
申请日：2021-04-16
Applicant: 株式会社日本显示器
Inventor： 安达浩一郎
IPC: G02F1/1343 , G02F1/1335
Abstract: 本发明提供一种能够抑制显示品质的劣化的显示装置。一种显示装置，具备：第一基板，具备配置于显示区域中的最外周的第一主像素且具有第一带电极及第二带电极的第一像素电极、以及配置于显示区域中的比第一主像素靠内侧的第二主像素且具有第三带电极及第四带电极的第二像素电极；第二基板，具备与第一带电极重叠的遮光层；以及液晶层，配置于第一基板与第二基板之间，第一像素电极以及第二像素电极与相同的信号线电连接，遮光层具有使第二带电极露出的第一开口以及使第三带电极及第四带电极露出的第二开口，第一开口的大小比第二开口的大小小，第二带电极的宽度比第一带电极的宽度小。
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公开(公告)号：CN109101135A
公开(公告)日：2018-12-28
申请号：CN201810948257.8
申请日：2013-01-31
Applicant: 株式会社日本显示器
Inventor： 安达浩一郎
IPC: G06F3/041
Abstract: 本发明公开了邻近检测装置、邻近检测方法及电子设备。其中，该邻近检测装置，包括：显示单元，具有显示图像表面，在所述显示图像表面中多个像素电极以矩阵形布置；以及邻近操作检测单元，在其中在叠在所述显示图像表面的位置处布置用于邻近操作检测的透明电极从而形成操作表面，形成所述透明电极的导电薄膜图案的线性图案的间距等于或小于所述像素电极在一个方向上的布置间距。
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公开(公告)号：CN113534545B
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202110408585.0
申请日：2021-04-16
Applicant: 株式会社日本显示器
Inventor： 安达浩一郎
IPC: G02F1/1343 , G02F1/1335
Abstract: 本发明提供一种能够抑制显示品质的劣化的显示装置。一种显示装置，具备：第一基板，具备配置于显示区域中的最外周的第一主像素且具有第一带电极及第二带电极的第一像素电极、以及配置于显示区域中的比第一主像素靠内侧的第二主像素且具有第三带电极及第四带电极的第二像素电极；第二基板，具备与第一带电极重叠的遮光层；以及液晶层，配置于第一基板与第二基板之间，第一像素电极以及第二像素电极与相同的信号线电连接，遮光层具有使第二带电极露出的第一开口以及使第三带电极及第四带电极露出的第二开口，第一开口的大小比第二开口的大小小，第二带电极的宽度比第一带电极的宽度小。
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公开(公告)号：CN117111363A
公开(公告)日：2023-11-24
申请号：CN202310588250.0
申请日：2023-05-23
Applicant: 株式会社日本显示器
Inventor： 安达浩一郎
IPC: G02F1/1343 , G02F1/1339
Abstract: 一种液晶显示装置，具有：阵列基板，包括将多个像素电极以矩阵状排列在绝缘层上而得到的像素阵列；对置基板，与阵列基板对置，设置有与多个像素电极重叠的对置电极；液晶层，位于阵列基板与对置基板之间；第一间隔物，位于阵列基板与对置基板之间；以及突起部，向液晶层中突出。对置电极在与多个像素电极的每一个重叠的区域具有开口部，突起部配置于多个像素电极的像素间的区域，突起部的高度比第一间隔物的高度低。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109101135B
公开(公告)日：2021-07-06
申请号：CN201810948257.8
申请日：2013-01-31
Applicant: 株式会社日本显示器
Inventor： 安达浩一郎
IPC: G06F3/041
Abstract: 本发明公开了邻近检测装置、邻近检测方法及电子设备。其中，该邻近检测装置，包括：显示单元，具有显示图像表面，在所述显示图像表面中多个像素电极以矩阵形布置；以及邻近操作检测单元，在其中在叠在所述显示图像表面的位置处布置用于邻近操作检测的透明电极从而形成操作表面，形成所述透明电极的导电薄膜图案的线性图案的间距等于或小于所述像素电极在一个方向上的布置间距。
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公开(公告)号：CN107272944A
公开(公告)日：2017-10-20
申请号：CN201710327828.1
申请日：2014-03-25
Applicant: 株式会社日本显示器
Inventor： 安达浩一郎
Abstract: 本发明提供一种在抑制触摸检测电极导致的在显示面板上看到莫尔条纹的同时还可进行触摸检测的显示装置及检测装置。显示装置包括：基板；多个像素，配置在与基板的表面平行的面上；触摸检测电极，配置在与基板的表面平行的面上；以及伪电极，从垂直于基板的表面的方向观察，伪电极设置于没有触摸检测电极的区域，其中，伪电极包括：多个第一方向狭缝，多个第一方向狭缝整体沿第一方向延伸，并排列在与第一方向交叉的第二方向上；以及第二方向狭缝，连接在第二方向上相邻的至少两个第一方向狭缝，第二方向狭缝包括相对于第二方向具有规定角度的直线状的狭缝，第一方向狭缝包括：多个直线部；以及连接直线部的端部之间的弯曲部。
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公开(公告)号：CN111624803B
公开(公告)日：2023-04-28
申请号：CN202010121746.3
申请日：2020-02-26
Applicant: 株式会社日本显示器
Inventor： 安达浩一郎
IPC: G02F1/1335 , G02F1/1339 , G02F1/1343 , G02F1/1345
Abstract: 本发明涉及显示装置，实施方式涉及的显示装置具备：第一显示部，具备第一像素；第二显示部，与所述第一显示部相邻设置，并且具备第二像素；以及遮光部，分别包围所述第一显示部以及所述第二显示部，所述遮光部具有包围所述第一显示部以及所述第二显示部中至少一方的第一狭缝。
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公开(公告)号：CN111624820A
公开(公告)日：2020-09-04
申请号：CN202010121295.3
申请日：2020-02-26
Applicant: 株式会社日本显示器
IPC: G02F1/1339 , G02F1/1335 , G02F1/1362
Abstract: 本申请提供抑制显示质量下降的显示装置。本实施方式的显示装置具备：第一显示部，具有第一像素；第二显示部，具有第二像素；第一遮光部，包围所述第一显示部和所述第二显示部；第二遮光部，设置于所述第一显示部和所述第二显示部之间；液晶层，设置于所述第一显示部和所述第二显示部；第一密封件，与所述第一遮光部重叠，将所述液晶层密封于所述第一显示部和所述第二显示部；以及第二密封件，与所述第二遮光部重叠，所述第二密封件具有连通所述第一显示部和所述第二显示部的至少一个开口。
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公开(公告)号：CN107272944B
公开(公告)日：2020-06-09
申请号：CN201710327828.1
申请日：2014-03-25
Applicant: 株式会社日本显示器
Inventor： 安达浩一郎
Abstract: 本发明提供一种在抑制触摸检测电极导致的在显示面板上看到莫尔条纹的同时还可进行触摸检测的显示装置及检测装置。显示装置包括：基板；多个像素，配置在与基板的表面平行的面上；触摸检测电极，配置在与基板的表面平行的面上；以及伪电极，从垂直于基板的表面的方向观察，伪电极设置于没有触摸检测电极的区域，其中，伪电极包括：多个第一方向狭缝，多个第一方向狭缝整体沿第一方向延伸，并排列在与第一方向交叉的第二方向上；以及第二方向狭缝，连接在第二方向上相邻的至少两个第一方向狭缝，第二方向狭缝包括相对于第二方向具有规定角度的直线状的狭缝，第一方向狭缝包括：多个直线部；以及连接直线部的端部之间的弯曲部。
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