一种可低温烧结BiFeO3基高性能负温度系数热敏陶瓷材料及其制备方法

    公开(公告)号:CN102964119A

    公开(公告)日:2013-03-13

    申请号:CN201210470746.X

    申请日:2012-11-20

    Abstract: 本发明公开了一种可低温烧结BiFeO3基高性能负温度系数热敏陶瓷材料及其制备方法,它是先合成(1-x)BiFeO3-xMeMO3粉体,再不掺入或掺入少量SiO2,经压制成型、烧结制成掺SiO2的(1-x)BiFeO3-xMeMO3热敏陶瓷材料。本发明制备的可低温烧结BiFeO3基高性能负温度系数热敏陶瓷材料,烧结温度低于950℃且性能稳定,性能测试表明能够获得较好的综合热敏性能:热敏常数β25/85大于5000K,室温电阻率ρ25小于106Ω·cm,老化率η低于5%。制备过程采用传统的陶瓷固相烧结制备工艺,采用工艺相对简单、稳定,因而具有较高的实用性和推广应用前景。

    低阻型BaMIIxBi1-xO3负温度系数热敏厚膜材料及其制备方法

    公开(公告)号:CN103864412A

    公开(公告)日:2014-06-18

    申请号:CN201410063590.2

    申请日:2014-02-25

    Abstract: 本发明公开了低阻型BaMIIxBi1-xO3负温度系数热敏厚膜材料及其制备方法,主要成分为BaMIIxBi1-xO3热敏相粉体,其中0.01≤x≤0.05,符号MII为Co、Mn、Ni、Cu、Zn的正二价氧化物中的一种。将BaMIIxBi1-xO3热敏相粉体与有机载体按质量比74:26混合均匀,形成厚膜电阻浆料。将电阻浆料通过丝网印刷工艺印刷到基片上,经过放平,烘烤,预烧并重复印刷得到所需厚度的厚膜素坯。将素坯在700~900℃烧结下,保温120分钟即可得到低阻型BaMIIxBi1-xO3负温度系数热敏厚膜材料。本发明制备工艺简单,成膜温度低,膜厚度在20~80μm内,热敏常数值介于1000~4000K之间,室温电阻率处于0.7Ω·cm~20kΩ·cm范围内,150℃下保温650小时的老化率低于2%。

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